[发明专利]软件缺陷数据处理方法和装置在审
申请号: | 201611239451.6 | 申请日: | 2016-12-28 |
公开(公告)号: | CN107783890A | 公开(公告)日: | 2018-03-09 |
发明(设计)人: | 杜一森 | 申请(专利权)人: | 平安科技(深圳)有限公司 |
主分类号: | G06F11/34 | 分类号: | G06F11/34;G06F11/36 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 | 代理人: | 李文渊 |
地址: | 518052 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 软件 缺陷 数据处理 方法 装置 | ||
1.一种软件缺陷数据处理方法,所述方法包括:
获取软件标识;
收集与所述软件标识对应的软件缺陷记录;收集的所述软件缺陷记录通过与所述软件标识对应的软件开发人员账号和/或软件测试人员账号记录;
确定与预设的软件缺陷统计指标对应的统计方式,并确定收集的所述软件缺陷记录中与所述预设的软件缺陷统计指标相关的软件缺陷的状态时间记录;
根据确定的所述统计方式和确定的所述软件缺陷的状态时间记录,按日期统计所述预设的软件缺陷统计指标对应的统计值;
根据按日期统计的所述统计值绘制所述软件缺陷统计指标随日期变化的趋势图。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,收集的所述软件缺陷记录还包括开发人员标识;
所述根据确定的所述统计方式和确定的所述软件缺陷的状态时间记录,按日期统计所述预设的软件缺陷统计指标对应的统计值的步骤包括:
从收集的所述软件缺陷记录中筛选出包括相同开发人员标识的软件缺陷记录,得到与所述相同开发人员标识对应的软件缺陷记录子集;
根据确定的所述统计方式和确定的所述软件缺陷的状态时间记录,按日期统计所述软件缺陷记录子集中的软件缺陷记录,得到与所述预设的软件缺陷统计指标对应且与所述相同开发人员标识对应的统计值;
所述根据按日期统计的所述统计值绘制所述软件缺陷统计指标随日期变化的趋势图的步骤包括:
根据所述与所述相同开发人员标识对应的统计值绘制所述软件缺陷统计指标随日期变化的趋势图。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,收集的所述软件缺陷记录还包括缺陷修复次数;
所述根据所述与所述相同开发人员标识对应的统计值绘制所述软件缺陷统计指标随日期变化的趋势图之后,所述方法还包括:
根据确定的所述统计方式统计所述软件缺陷记录子集中软件缺陷记录的数量以及所述软件缺陷记录中包括的缺陷修复次数,得到与所述预设的软件缺陷统计指标对应且与所述开发人员标识对应的统计值;
根据所述与所述开发人员标识对应的统计值绘制所述软件缺陷统计指标随所述开发人员标识变化的分布图。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述预设的软件缺陷统计指标包括软件缺陷时期统计指标和软件缺陷累计统计指标;
所述确定与预设的软件缺陷统计指标对应的统计方式,并确定收集的所述软件缺陷记录中与所述预设的软件缺陷统计指标相关的软件缺陷的状态时间记录的步骤包括:
确定与所述软件缺陷时期统计指标对应的时期指标统计方式,并确定收集的所述软件缺陷记录中与所述软件缺陷时期统计指标相关的软件缺陷的状态时间记录;
所述根据确定的所述时期统计方式和确定的所述软件缺陷的状态时间记录,按日期统计所述预设的软件缺陷统计指标对应的统计值的步骤包括:
根据确定的所述时期指标统计方式和确定的所述软件缺陷的状态时间记录,按日期统计所述软件缺陷时期统计指标对应的统计值;
确定与所述软件缺陷累计统计指标对应的累计指标统计方式和相关的软件缺陷时期统计指标;
根据确定的所述累计指标统计方式和确定的所述相关的软件缺陷时期统计指标的统计值,按日期统计所述软件缺陷累计统计指标对应的统计值。
5.根据权利要求1或4所述的方法,其特征在于,所述根据按日期统计的所述统计值绘制所述软件缺陷统计指标随日期变化的趋势图的步骤包括:
获取待生成的软件缺陷统计列表的列表统计项目;
从所述软件缺陷统计指标中查找与所述列表统计项目匹配的软件缺陷统计指标;
将所述匹配的软件缺陷统计指标对应的按日期统计的所述统计值作为所述列表统计项目的项目值,按日期升序排列生成软件缺陷统计列表;
根据所述软件缺陷统计列表绘制所述列表项目随日期变化的趋势图。
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