[发明专利]一种测量信号的温度补偿电路

说明书

本发明公开一种测量信号的温度补偿电路，包括测量信号取样模块，信号补偿模块、补偿系数选择模块、温度补偿偏移模块、正温度系数输出电压产生模块和负温度系数输出电压产生模块。测量信号取样模块对输入的测量电压进行取样；信号补偿模块根据测量值，判断其正负特性，控制补偿系数选择模块选择相反特性的校正电压作为参考电压输出；以及判断所述参考电压能否补偿所述测量电压，若能，则输出补偿后的输出电压，否则设置温度补偿偏移模块的偏移值，使参考电压能够补偿所述测量电压。使用本发明的温度补偿电路，可以降低系统的复杂程度，降低成本，提高测试系统的温度适应范围。

技术领域

本发明涉及半导体集成电路技术领域，尤其涉及一种测量信号的温度补偿电路。

背景技术

在测试系统中，测量信号容易随温度变化，导致测量结果在不同的温度环境下输出不同的测量值。在现有技术中，通常采用ADC(Analog to Digital Converter,模拟数字转换器)的测量方案，测试温度后，根据当前测试温度计算所需的补偿值，再查表选择补偿系数配置。由于ADC本身的误差INL(Integral nonlinearity，积分非线性)/DNL(Differential nonlinearity，微分非线性)，导致测温需要软件校正，增加系统的复杂程度及成本。并且ADC的采样时钟在系统上引入开关噪声，使高精度测试系统产生误差。

因此，现有的温度补偿方案需要在测量系统中增加额外的温度测试电路，增加了系统的复杂程度及成本，还需要更多的软件校正时间，增加测试成本。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种测量信号的温度补偿电路,其可实现对精确测量信号的温度补偿功能。

为解决本发明的技术问题，本发明公开一种测量信号的温度补偿电路,包括测量信号取样模块，信号补偿模块、补偿系数选择模块、温度补偿偏移模块、正温度系数输出电压产生模块和负温度系数输出电压产生模块；

所述测量信号取样模块用于取样输入的测量电压随温度的变化而产生的测量值，发送至信号补偿模块；

所述信号补偿模块用于根据所述测量值，判断其正负特性，通过选择控制信号控制补偿系数选择模块选择相反特性的校正电压作为参考电压输出；以及判断所述参考电压能否补偿所述测量电压，若能，则输出补偿后的输出电压，否则设置温度补偿偏移模块的偏移值，使参考电压能够补偿所述测量电压；

所述正温度系数输出电压产生模块用于产生随温度升高而升高的正特性电压；

所述负温度系数输出电压产生模块用于产生随温度升高而降低的负特性电压；

所述温度补偿偏移模块用于根据所述信号补偿模块输出的偏移值，调整所述正特性电压和负特性电压的值，生成正特性校正电压和负特性校正电压输出到补偿系数选择模块；

所述补偿系数选择模块用于根据所述信号补偿模块输出的选择控制信号，选择正特性校正电压作为参考电压输出至信号补偿模块；或选择负特性校正电压作为参考电压输出至信号补偿模块。

与现有技术相比，本发明具有如下有益效果：本发明通过采用检测随温度变化而变化的线性直流电压的正负特性，经信号补偿模块计算补偿后，输出与温度无关的测量信号，实现对精确测量信号的温度补偿功能.精简电路的复杂程度。使用本发明的温度补偿电路，可以降低系统的复杂程度，降低成本，提高测试系统的温度适应范围。

附图说明

图1是本发明实施例的测量信号的温度补偿电路结构图；

图2是本发明另一实施例的测量信号的温度补偿电路结构图；

图3是本发明实施例的负特性电压随温度变化而降低的示意图；

图4是本发明实施例的正特性电压随温度变化而升高的示意图；