[发明专利]一种针对偏振光束与磁光材料作用下偏振态时间分辨谱的检测系统有效

专利信息
申请号: 201611240669.3 申请日: 2016-12-29
公开(公告)号: CN106644084B 公开(公告)日: 2017-12-29
发明(设计)人: 刘鉴霆;王双保 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G01J4/00 分类号: G01J4/00;G01R33/032
代理公司: 华中科技大学专利中心42201 代理人: 周磊
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 针对 偏振 光束 材料 作用 时间 分辨 检测 系统
【权利要求书】:

1.一种针对偏振光束与磁光材料作用下偏振态时间分辨谱的检测系统,其特征在于,包括高压脉冲发生器、火花隙、电光Q开关、连续激光器、飞秒激光器、聚光透镜、第一偏振棱镜、第二偏振棱镜和偏振测量仪,其中,

所述高压脉冲发生器分别与所述火花隙和所述电光Q开关连接;

所述连续激光器用于产生连续激光并且使所述连续激光以布鲁斯特角入射到第一偏振棱镜上;

所述第一偏振棱镜用于使所述连续激光的P偏振光通过,通过的所述P偏振光作为测量光束;

所述飞秒激光器用于产生脉冲激光,所述脉冲激光通过透镜聚焦到火花隙中,火花隙击穿后由高压脉冲发生器产生一个1/4波长的电压,使得电光Q开关被打开,从而让所述测量光束依次穿过电光Q开关、第二偏振棱镜后和环绕有线圈并且线圈内通有电流的磁光晶体后,再进入所述偏振测量仪,进而通过所述偏振测量仪获得所述磁光晶体的时间谱。

2.根据权利要求1所述的一种针对偏振光束与磁光材料作用下偏振态时间分辨谱的检测系统,其特征在于,所述电光Q开关和第二偏振棱镜之间设置有反射镜组,以使测量光束经反射后进入第二偏振棱镜。

3.根据权利要求1所述的一种针对偏振光束与磁光材料作用下偏振态时间分辨谱的检测系统,其特征在于,所述飞秒激光器与所述聚焦透镜之间设置有反射镜。

4.根据权利要求1所述的一种针对偏振光束与磁光材料作用下偏振态时间分辨谱的检测系统,其特征在于,所述偏振测量仪包括光线分束器、四个1/4波片、四个偏振片、四个光电探测器、CCD相机和上位机,每个所述1/4波片分别与所述光线分束器连接,每个所述1/4波片依次连接一个偏振片和一个光电探测器,每个所述光电探测器分别与所述上位机连接,所述CCD相机与所述光线分束器连接,所述光线分束器用于将入射光分为强度相同的五路光束,其中四路光束对应于斯托克斯偏振测量方法中的四个分量并且这四路光束经过不同角度的1/4波片和偏振片后由光电探测器采集并传到上位机,以获得磁光晶体的时间谱,另外一路光束由CCD相机接收,以用于观察脉冲激光处于不同偏振态时的光子分布。

5.根据权利要求1所述的一种针对偏振光束与磁光材料作用下偏振态时间分辨谱的检测系统,其特征在于,所述磁光晶体采用磁光材料制成。

6.根据权利要求1所述的一种针对偏振光束与磁光材料作用下偏振态时间分辨谱的检测系统,其特征在于,所述磁光晶体优选采用稀土铁石榴石制成。

7.根据权利要求1所述的一种针对偏振光束与磁光材料作用下偏振态时间分辨谱的检测系统,其特征在于,所述飞秒激光器产生的脉冲激光中,一个脉冲包含一个或多个周期的光波,以获得磁光晶体的法拉第效应的时间微分响应机理。

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