[发明专利]一种性能分析方法、装置及电子设备在审
申请号: | 201611243466.X | 申请日: | 2016-12-29 |
公开(公告)号: | CN106776337A | 公开(公告)日: | 2017-05-31 |
发明(设计)人: | 刘小梅 | 申请(专利权)人: | 北京金山安全软件有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 广州三环专利代理有限公司44202 | 代理人: | 郝传鑫,熊永强 |
地址: | 100085 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 性能 分析 方法 装置 电子设备 | ||
1.一种性能分析方法,其特征在于,所述方法应用于电子设备,所述方法包括:
对应用程序进行多次压力测试;
获取所述多次压力测试的汇总文件,所述汇总文件包括多种性能指标的测试结果;
从所述汇总文件中提取所述多种性能指标中目标性能指标的测试结果进行关联分析。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述从所述汇总文件中提取所述多种性能指标中目标性能指标的测试结果进行关联分析,包括:
根据所述目标性能指标的测试结果生成性能趋势图。
3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述目标性能指标的测试结果生成性能趋势图,包括:
对所述目标性能指标的测试结果与预设的性能参数进行对比,确定所述目标性能指标的测试差异值;
将所述目标性能指标的所述测试差异值生成所述性能趋势图。
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述从所述汇总文件中提取所述多种性能指标中目标性能指标的测试结果进行关联分析,包括:
对所述目标性能指标的测试结果与预设的性能参数进行对比,确定所述目标性能指标的测试差异值;
确定所述目标性能指标的所述测试差异值是否大于预设阈值;
若所述目标性能指标的所述测试差异值大于所述预设阈值,则发出提示信息。
5.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述性能趋势图包括趋势对比图,所述根据所述目标性能指标的测试结果生成性能趋势图,包括:
提取所述多次压力测试所测得的所述目标性能指标的测试结果进行对比,并生成所述趋势对比图。
6.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述目标性能指标的测试结果生成性能趋势图之后,还包括:
将所述性能趋势图生成网页文件,对所述网页文件进行显示。
7.如权利要求1-6任意一项所述的方法,其特征在于,所述目标性能指标至少包括平均响应时间、CPU占用率以及每秒请求数中的至少一种。
8.一种性能分析装置,其特征在于,所述装置包括:
压力测试模块,用于对应用程序进行多次压力测试;
文件获取模块,用于获取所述多次压力测试的汇总文件,所述汇总文件包括多种性能指标的测试结果;
结果分析模块,用于从所述汇总文件中提取所述多种性能指标中目标性能指标的测试结果进行关联分析。
9.如权利要求8所述的装置,其特征在于,
所述结果分析模块,还用于根据所述目标性能指标的测试结果生成性能趋势图。
10.一种电子设备,其特征在于,包括:处理器、存储器、通信接口和总线;
所述处理器、所述存储器和所述通信接口通过所述总线连接并完成相互间的通信;
所述存储器存储可执行程序代码;
所述处理器通过读取所述存储器中存储的可执行程序代码来运行与所述可执行程序代码对应的程序,以用于:
对应用程序进行多次压力测试;
获取所述多次压力测试的汇总文件,所述汇总文件包括多种性能指标的测试结果;
从所述汇总文件中提取所述多种性能指标中目标性能指标的测试结果进行关联分析。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京金山安全软件有限公司,未经北京金山安全软件有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201611243466.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。