[发明专利]一种干涉仪装配质量检测系统有效
申请号: | 201611244555.6 | 申请日: | 2016-12-29 |
公开(公告)号: | CN106596075B | 公开(公告)日: | 2019-08-09 |
发明(设计)人: | 杨建华;时东海;马瑞;黄磊;任娟;黄鑫岩;龙娅;陈欣 | 申请(专利权)人: | 北京航天时代光电科技有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 马全亮 |
地址: | 100094*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 干涉仪 装配 质量 检测 系统 | ||
1.一种干涉仪装配质量检测系统,其特征在于包括:壳体(1)、风扇(2)、光路检测系统(3)、检测电路(4)、电信号探测器(5)、FC/APC接头(6);
风扇(2)、光路检测系统(3)、检测电路(4)和电信号探测器(5)安装在壳体(1)内部,风扇(2)用于给壳体(1)内部降温,光路检测系统(3)通过安装在壳体(1)上的FC/APC接头(6)连接外部待检测的干涉仪,同时,光路检测系统(3)通过电信号探测器(5)与检测电路(4)连接成回路,用于检测外部待检测的干涉仪的光功率;
所述光路检测系统(3)包括光源(7)、3×3耦合器(8)、2×2耦合器(9)、光路支撑壳体(10)和裸管探测器(11);
光路支撑壳体(10)固定在壳体(1)的内部底板上,光源(7)、3×3耦合器(8)、2×2耦合器(9)和裸管探测器(11)均安装在光路支撑壳体(10)上;光源(7)提供光信号,与3×3耦合器(8)的输入端熔接在一起,通过3×3耦合器(8)分光为三路,一路与裸管探测器(11)连接,用于检测光功率并输出;另外两路均与2×2耦合器(9)的一个输入端连接,经过2×2耦合器(9)分光之后,其中一路连接到FC/APC接头(6);2×2耦合器(9)的另外一路输入端还连接到电信号探测器(5)。
2.根据权利要求1所述的一种干涉仪装配质量检测系统,其特征在于:光源(7)产生的光信号的波长与待测干涉仪的工作波长相同。
3.根据权利要求1所述的一种干涉仪装配质量检测系统,其特征在于:光纤熔接的位置处设置有光纤熔接管。
4.根据权利要求1所述的一种干涉仪装配质量检测系统,其特征在于:所述检测电路(4)包括光源驱动电路、温控电路、电压测量电路、光功率测量电路和电源;
电源给光源驱动电路、温控电路、电压测量电路和光功率测量电路供电,光源驱动电路用于给光路检测系统(3)中的光源提供驱动信号,控制光源产生的光信号功率;温控电路用于给光路检测系统(3)中的光源控制温度;电压测量电路用于测量电信号探测器(5)的输出电压,光功率测量电路用于测量裸管探测器(11)的输出光功率。
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