[发明专利]一种工作频率调整方法、装置及系统

说明书

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，特别涉及一种工作频率调整方法、装置及系统。

背景技术

随着现代芯片制造工艺的飞速发展，芯片的频率越来越高，工作电压越来越低，工作电流越来越大，随之而来的是运算效率的降低。在某些电路设计中，多颗芯片串联部分解决了上述问题。在串联电路中，由于芯片的分压使每颗芯片可以获得合适的工作电压和工作电流，降低了设计难度和生产成本。

但芯片间串联仍然存在一些问题：例如限制了I/O导线的数量，同时导线产生了功耗损失。另外，即使同样型号的芯片在生产过程中也存在着生产差异，因此在串联电路中无法保证所有芯片具有相同的分压。由于每个芯片的负载电压不同，如采用相同的时钟频率，则芯片的运算效率不同。对于高性能芯片这种性能损失不可忽视。

为解决上述问题，相关技术中，测量芯片的某些物理指标，如电压值、温度值等，并通过一定的算法将物理指标变换成频率进行动态调整。而这种方法需要内置传感器来采集芯片内的电压、温度等物理指标，增加了部署成本，因而，如何提供一种工作频率调整方法，用以在实现对芯片工作频率动态调整的基础上，降低部署成本。

发明内容

本发明提供一种工作频率调整方法、装置及系统，用以在实现对芯片工作频率动态调整的基础上，降低部署成本。

本发明提供一种工作频率调整方法，包括：

当计算芯片运行时，监测所述计算芯片内计算模块的工作频率评分值，其中，所述计算芯片由至少两个所述计算模块串联构成；

当所述计算模块的工作频率评分值大于第一预设评分值时，提高所述计算模块的工作频率；

当所述计算模块的工作频率评分值小于第二预设评分值时，降低所述计算模块的工作频率。

本发明的有益效果在于：当计算模块运行时，检测计算芯片内计算模块的工作频率评分值，当计算模块的工作频率评分值大于第一预设评分值时，提高计算模块的工作频率，当计算模块的工作频率评分值小于第二预设评分值时，降低计算模块的工作频率，从而无需内置传感器来采集芯片内的电压、温度等物理指标，即可实现对芯片工作频率的动态调整，进而在实现了对芯片工作频率动态调整的基础上，降低了部署成本。

在一个实施例中，所述方法还包括：

生成用于标识所述计算模块的工作频率的初始评分值；

当接收到所述计算芯片发送的第一计算结果时，判断所述第一计算结果是否正确；

当所述第一计算结果正确时，以预设步长提高所述初始评分值，以得到用于标识所述计算模块的第一评分值；

当所述第一计算结果错误时，以预设步长降低所述初始评分值，以得到用于标识所述计算模块的第二评分值。

本实施例的有益效果在于：判断从计算模块处接收到的计算结果是否正确，当见结果正确时，以预设步长提高初始评分值，当计算结果错误时，降低初始评分值，从而实现了对计算模块工作频率的动态调整。

在一个实施例中，所述判断所述第一计算结果是否正确，包括：

获取所述第一计算结果对应的计算任务；

对所述计算任务进行计算，以得到所述计算任务对应的第二计算结果；

对所述第一计算结果和所述第二计算结果进行比对；

当比对一致时，确定所述第一计算结果正确；

当比对不一致时，确定所述第一计算结果错误。

在一个实施例中，所述方法还包括：

根据工作频率的频率值将所述工作频率划分为多个频率级别，其中，级别越高，对应的工作频率的频率值越高；

所述提高所述计算模块的工作频率，包括：

将所述计算模块的工作频率的频率级别提高至比当前频率级别高的频率级别；

所述降低所述计算模块的工作频率，包括：

将所述计算模块的工作频率的频率级别降低至比当前频率级别低的频率级别。

本实施例的有益效果在于：通过划分多个不同的频率级别，从而可以直接通过改变频率级别实现对计算模块工作频率的调整，简化了调整过程。

本发明还提供一种工作频率调整装置，包括：

监测模块，用于当计算芯片运行时，监测所述计算芯片内计算模块的工作频率评分值，其中，所述计算芯片由至少两个所述计算模块串联构成；

第一调整模块，用于当所述计算模块的工作频率评分值大于第一预设评分值时，提高所述计算模块的工作频率；

第二调整模块，用于当所述计算模块的工作频率评分值小于第二预设评分值时，降低所述计算模块的工作频率。