[发明专利]一种实现百分表测量间隙面差的检具结构及测量方法

权利要求书

1.一种实现百分表测量间隙面差的检具结构测量面差的方法，包括百分表(13)，还包括设置于测量点处的基准块(20)，所述基准块(20)上设有间隙基准面(23)、面差基准面(24)和第一定位结构(22)，所述百分表(13)的探头(13.1)上设有探测机构(14)；所述探测机构(14)包括探测座(14.1)和设置于探测座(14.1)内的转换探头(17)，所述探头(13.1)与转换探头(17)接触连接，所述探测座(14.1)上分别设有面差测量基准(19)、间隙测量基准(16)和第二定位结构(15)；所述探测座(14.1)包括壳体(14.2)，所述壳体内设有探头放置槽(14.3)和导向通孔(18)；所述转换探头(17)包括探头接触块(27)、导向光滑圆柱(28)与测量块(26)；所述探头接触块(27)位于探头放置槽(14.3)底部，并与探头(13.1)底部接触连接，所述导向光滑圆柱(28)活动置于导向通孔(18)内，所述测量块(26)伸出于壳体(14.2)；所述面差测量基准(19)为壳体(14.2)底面的平面；所述间隙测量基准(16)为壳体(14.2)第一侧面凸出于壳体(14.2)的钩状结构；

其特征在于，测量面差的方法包括以下步骤：

(1)、测量时将探测机构(14)中的面差测量基准(19)与基准块(20)的面差基准面(24)贴合；

(2)、将探测机构(14)中的第二定位结构(15)与基准块(20)上的第一定位结构(22)靠紧；

(3)、将探测机构(14)中的转换探头(17)的测量块(26)底面与被测产品(21)上的面差测量点接触，当被测产品(21)在面差测量点处有误差时，转换探头(17)的测量块(26)将误差值通过导向光滑圆柱(28)沿导向通孔(18)上下移动，探头接触块(27)随之平行移动同时带动数显百分表探头(13.1)等量移动，从而将误差值反映在数显屏幕上，完成面差测量。

2.据权利要求1所述的一种实现百分表测量间隙面差的检具结构测量面差的方法，其特征在于，所述第一定位结构(22)为基准块(20)上的定位柱。

3.据权利要求1所述的一种实现百分表测量间隙面差的检具结构测量面差的方法，其特征在于，所述第二定位结构(15)为壳体(14.2)上的第二侧面上的平面结构，所述第二侧面、第一侧面分别为壳体(14.2)的两个相邻侧面。

4.据权利要求1所述的一种实现百分表测量间隙面差的检具结构测量面差的方法，其特征在于，测量间隙的方法包括以下步骤：

(1)、将百分表(13)旋转90度放置，将探测机构(14)中的间隙探测基准(16)与基准块(20)的间隙基准面(23)贴合即钩住；

(2)、将探测机构(14)的第二定位结构(15)与基准块(20)上的第一定位结构(22)靠紧；

(3)、将探测机构(14)中的转换探头(17)的测量块(26)底面与被测产品(21)上的间隙测量点接触，当被测产品(21)在间隙测量点处有误差时，测量块(26)将误差值通过导向光滑圆柱(28)沿导向通孔(18)左右移动，探头接触块(27)随之平行移动同时带动数显百分表探头(13.1)等量移动，从而将误差值反映在数显屏幕上，完成间隙测量。