[发明专利]一种Zeta电位测定方法及系统

权利要求书

1.一种Zeta电位测定系统，其特征在于，包括：电位仪和结果分析单元；

所述电位仪，用于测量样品溶液的Zeta电位；

所述电位仪包括：光学单元、面板、状态指示灯、样品池开启按钮、样品池区、样品池架和至少一个样品池；所述光学单元，用于观察所述样品池样品溶液的微粒；所述面板用于包裹所述电位仪；所述状态指示灯，用于显示所述电位仪的工作状态；所述样品池区是一带盖子的容器，用于放置所述样品池；所述样品池开启按钮，用于控制所述样品池区的盖子的开启；所述样品池架用于放置闲置的样品池；所述样品池用于放置样品溶液；

所述结果分析单元，用于对所述电位仪的测量结果进行分析，得到界面分析结果。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述光学单元具有预设的光学放大倍率。

3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述光学单元采用蓝光或绿光。

4.一种Zeta电位测定方法，其特征在于，包括：

获取两种物质界面的岩石末梢粉末，利用多种配置溶液和所述岩石末梢粉末配置多种测定溶液；

分别获取所述测定溶液中的预设容量的样品，利用电位仪分别测量所述多种样品得到与所述测定溶液对应的电位值；

根据所述多种测定溶液对应的电位值，确定与所述配置溶液对应的所述两种物质界面的可分离程度。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述利用多种配置溶液和岩石末梢粉末配置多种测定溶液，包括：

取若干份10毫克所述岩石末梢粉末，分别取10毫升多种配置溶液；

分别将一份岩石末梢粉末与一种配置溶液充分混合；

将所述混合后的溶液静止放置预设时间间隔，得到测定溶液。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述多种配置溶液包括下述配置溶液中的至少两种：第一质量百分含量或第二质量百分含量的氯化钠溶液、第一质量百分含量或第二质量百分含量的氯化钙溶液、第一质量百分含量或第二质量百分含量的氯化镁溶液。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述第一质量百分含量与所述第二质量百分含量不同；所述第一质量百分含量活第二质量百分含量的取值为：5％、1％或0.1％。

8.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述获取所述测定溶液中的预设容量的样品具体包括：利用针管取所述测定溶液中界面处1毫升的溶液作为样品。

9.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据多种测定溶液对应的电位值，确定与所述配置溶液对应的所述两种物质界面的可分离程度，具体包括：配置溶液对应的电位值的负值越大，与该配置溶液对应的所述两种物质界面的可分离程度越强。

10.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述预设时间间隔为：大于或等于2天。