[发明专利]焊垫下电路结构及其制造方法在审
申请号: | 201611254790.1 | 申请日: | 2016-12-30 |
公开(公告)号: | CN108269776A | 公开(公告)日: | 2018-07-10 |
发明(设计)人: | 张荣麟 | 申请(专利权)人: | 应广科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/488 | 分类号: | H01L23/488;H01L21/60 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 张一军;赵静 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 金属层 元件层 连接层 打线接合 工艺步骤 焊垫 电连接金属 电路结构 电连接 焊垫层 电层 焊球 基板 制造 电路 并用 损害 | ||
1.一种焊垫下电路CUP结构,其特征在于,包含:
一元件层,形成于一基板上,包括多个元件;
至少一金属层,形成于该元件层上;
多个连接层,形成于该金属层与该元件层间,与该至少一金属层间,用以电连接该金属层与该元件层,并用以电连接该至少一金属层;以及
一焊垫层,形成于相对最上方的该连接层上,用以连接一焊球;
其中,该元件层包含一禁止区,该禁止区不包括任何该元件,且该禁止区的范围根据一打线接合的工艺步骤中的至少一参数、该焊电层的厚度、该金属层的厚度、或该连接层的厚度而定义,用以避免该打线接合的工艺步骤损害该多个元件;
其中,该元件包括一接面二极管、一金氧半MOS晶体管或/且一双极晶体管。
2.如权利要求1所述的焊垫下电路结构,其中,该打线接合的工艺步骤中的参数包括焊接时间、焊接压力、焊接功率、焊接温度、与焊接线材。
3.如权利要求2所述的焊垫下电路结构,其中,该禁止区由俯视图视之,为以该CUP结构的由俯视图视之的中心点为中心的一方形或圆形区域。
4.如权利要求1所述的焊垫下电路结构,其中,该焊球由俯视图视之,完全位于该禁止区中。
5.如权利要求1所述的焊垫下电路结构,其中,还包含多个介电层,分别形成于该元件层与该至少一金属层间、该至少一金属层间、以及该多个连接层与该焊垫层间。
6.一种焊垫下电路CUP结构制造方法,其特征在于,包含:
形成一元件层于一基板上,其中该元件层包括多个元件;
形成至少一金属层于该元件层上;
形成多个连接层于该金属层与该元件层间,与该至少一金属层间,用以电连接该金属层与该元件层,并用以电连接该至少一金属层;以及
形成一焊垫层于相对最上方的该连接层上,用以连接一焊球;
其中,该元件层包含一禁止区,该禁止区不包括任何该元件,且该禁止区的范围根据一打线接合的工艺步骤中的至少一参数、该焊电层的厚度、该金属层的厚度、或该连接层的厚度而定义,用以避免该打线接合的工艺步骤损害该多个元件;
其中,该元件包括一接面二极管、一金氧半MOS晶体管或/且一双极晶体管。
7.如权利要求6所述的焊垫下电路结构制造方法,其中,该打线接合的工艺步骤中的参数包括焊接时间、焊接压力、焊接功率、焊接温度、与焊接线材。
8.如权利要求7所述的焊垫下电路结构制造方法,其中,该禁止区由俯视图视之,为以该CUP结构的由俯视图视之的中心点为中心的一方形或圆形区域。
9.如权利要求6所述的焊垫下电路结构制造方法,其中,该焊球由俯视图视之,完全位于该禁止区中。
10.如权利要求6所述的焊垫下电路结构制造方法,其中,还包含:分别形成一介电层于该元件层与该至少一金属层间、该至少一金属层间、以及该多个连接层与该焊垫层间。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于应广科技股份有限公司,未经应广科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201611254790.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。