[发明专利]晶体参考面加工用X射线定向夹具和定向方法

权利要求书

1.一种晶体参考面加工用X射线定向夹具，其特征在于，包括：

可控倾斜台，具有一支撑面，该支撑面相对水平面的倾斜角度可调；

夹具组件，安装于所述可控倾斜台上，对晶体进行支撑和固定。

2.根据权利要求1所述的晶体参考面加工用X射线定向夹具，其特征在于：所述夹具组件包括：

夹具底板，固定于所述支撑面上；

夹具顶板，与所述夹具底板上下设置，该夹具顶板与夹具底板之间可拆卸固定，所述夹具顶板和夹具底板之间形成一晶体固定槽，所述夹具顶板上开设有与所述晶体固定槽连通的开口，该开口的大小满足：晶体固定后其参考面位于所述夹具顶板的上方。

3.根据权利要求1所述的晶体参考面加工用X射线定向夹具，其特征在于：所述可控倾斜台包括上下间隔设置的上支撑板和下支撑板，所述上支撑板和下支撑板之间设置有万向球，所述上支撑板相对所述下支撑板倾角可变。

4.根据权利要求3所述的晶体参考面加工用X射线定向夹具，其特征在于：所述上支撑板和下支撑板之间连接有第一调节螺钉和第二调节螺钉，转动该第一调节螺钉以调节上支撑板沿平行晶体固定槽延伸方向转动，转动第二调节螺钉以调节上支撑板沿垂直晶体固定槽延伸方向转动。

5.根据权利要求4所述的晶体参考面加工用X射线定向夹具，其特征在于：所述上支撑板和下支撑板之间连接有至少一个锁定螺钉，该锁定螺钉锁紧以实现上支撑板和下支撑板相对位置的固定。

6.根据权利要求2所述的晶体参考面加工用X射线定向夹具，其特征在于：所述夹具底板的上表面形成有对晶体进行支撑的第一V形凹槽。

7.根据权利要求6所述的晶体参考面加工用X射线定向夹具，其特征在于：所述第一V形凹槽的支撑面上设有垫片，该垫片的硬度小于所述第一V形凹槽的支撑面材料以及晶体材料的硬度。

8.根据权利要求1或6所述的晶体参考面加工用X射线定向夹具，其特征在于：所述夹具顶板的下表面形成有对晶体顶面进行限位的第二V形凹槽。

9.基于权利要求1至9任一所述的晶体参考面加工用X射线定向夹具的晶体参考面定向方法，其特征在于，包括步骤：

s1、将晶体支撑于夹具底板上；

s2、将X射线入射在晶体上，并通过探测器对反射的X射线进行探测；

s3、粗调：转动晶体，并通过探测器获取所需晶体参考面；

s4、将夹具顶板固定于夹具底板上方，并将晶体相对固定于晶体固定槽内；

s5、细调：改变可控倾斜台支撑面的倾斜角度，通过探测器进一步修正晶体参考面位置，获取标准晶体参考面。

10.根据权利要求9所述的晶体参考面加工用X射线定向夹具的晶体参考面定位方法，其特征在于：还包括步骤：

s6、转动锁定螺钉，实现上支撑板和下支撑板相对位置的固定。