[发明专利]一种可编程电路的模块测试系统

说明书

本发明公开了一种可编程电路的模块测试系统，该模块测试系统设置在被测模块与通用互联资源模块之间，该模块测试系统包含：测试控制模块及分别与之连接的接口模块、指令分析模块及数据处理模块；所述的接口模块分别与所述的通用互联资源模块及所述的指令分析模块连接；所述的数据处理模块分别与所述的接口模块及所述的被测模块连接。本发明利用可编程特性，在尽可能少的增加硬件结构的情况下，降低模块测试设计的复杂度，提高测试覆盖率，并具有一定的通用性，适用于不同功能的数字可编程电路模块。

技术领域

本发明涉及电子技术领域，具体涉及一种可编程电路的模块测试系统。

背景技术

可编程电路是集成电路中的一种类型，可编程电路的规模较大，内部包含有各种相对功能独立的可编程模块资源以及互联资源，其整体功能不固定，需要通过编程后调用内部可编程模块与互联资源来实现期望的功能。

现有技术中针对可编程电路的进行测试时，主要是利用可编程电路内部的通用资源可以灵活配置的特点，可以复用通用资源实现测试，将被测可编程电路视作一个独立的被测电路，将可编程电路外围配置为测试电路，可编程电路整体构成一个测试系统，来实现自测试；另外一种方案是采用非可编程电路的测试方法，在模块电路设计阶段将内部被测点从被测可编程电路专用的测试端口引出，直接测试。

由于可编程电路中的可编程模块功能日渐复杂、期望观测的信号数量越来越多，采用上述两种方法将存在占用资源大、覆盖率低的问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种可编程电路的模块测试系统，利用可编程特性，在尽可能少的增加硬件结构的情况下，降低模块测试设计的复杂度，提高测试覆盖率，并具有一定的通用性，适用于不同功能的数字可编程电路模块。

为了达到上述目的，本发明通过以下技术方案实现：一种可编程电路的模块测试系统，其特点是，该模块测试系统设置在被测模块与通用互联资源模块之间，该模块测试系统包含：

测试控制模块及分别与之连接的接口模块、指令分析模块及数据处理模块；

所述的接口模块分别与所述的通用互联资源模块及所述的指令分析模块连接；

所述的数据处理模块分别与所述的接口模块及所述的被测模块连接；其中

所述的测试控制模块通过所述的接口模块接收输入的测试使能信号和测试时钟信号，以使能或不使能被测模块的测试模式；

所述的指令分析模块通过所述的接口模块接收输入的指令信号，并对指令信号进行解析，以使被测模块执行相应的测试操作；

所述的数据处理模块根据对应的指令信号通过所述的接口模块接收输入的待更新的数据或通过所述的接口模块输出从被测模块采集的数据。

所述的接口模块包含一使能输入端口，所述的使能输入端口设置在所述的通用互联资源模块与测试控制模块之间，用于接收测试使能信号，使能或不使能被测模块的测试模式；一组数据输出端口，所述的数据输出端口设置在所述的通用互联资源模块与数据处理模块之间，用于将被测模块内部采集到的信号输出到被测模块之外；一组指令输入端口，所述的指令输入端口设置在所述的通用互联资源模块与指令分析模块之间，用于接收指令信号，以选择测试项目并进行相应的测试操作；一测试时钟输入端口，所述的测试时钟输入端口设置在所述的通用互联资源模块与测试控制模块之间，用于接收测试时钟信号以同步指令信号、测试使能信号、数据输出信号。

所述的数据处理模块包含依次连接第一数据存储单元与输出数据路径选择单元，其中，所述的第一数据存储单元分别与所述的一组数据输出端口及所述的测试控制模块连接；所述的输出数据路径选择单元分别与所述的指令分析模块及所述的被测模块连接。