[发明专利]中长工作距离单模单光纤准直器的光斑机调试系统及方法有效
申请号: | 201611258432.8 | 申请日: | 2016-12-30 |
公开(公告)号: | CN106500964B | 公开(公告)日: | 2019-03-15 |
发明(设计)人: | 叶雪梅 | 申请(专利权)人: | 上海中科光纤通讯器件有限公司;上海中科股份有限公司;上海中科创欣通讯设备有限公司 |
主分类号: | G01M11/00 | 分类号: | G01M11/00 |
代理公司: | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人: | 王洁;郑暄 |
地址: | 201800 上海市嘉定*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 长工作距离 单光纤准直器 单模 光斑 调试系统 五维调节架 激光点 光源 调试 产品一致性 插入损耗 调试难度 工作效率 互配性 波段 成对 光路 滑台 减小 合格率 计算机 员工 应用 | ||
本发明涉及一种中长工作距离单模单光纤准直器的光斑机调试系统及方法,包括激光点光源、光斑机、中长工作距离单模单光纤准直器、五维调节架和滑台,所述的激光点光源与所述的中长工作距离单模单光纤准直器相连接,所述的光斑机与计算机相连接,所述的中长工作距离单模单光纤准直器设置于所述的五维调节架上,所述的光斑机设置于所述的滑台上。采用该中长工作距离单模单光纤准直器的光斑机调试系统及方法,降低了光路的调试难度,提升了调试精度,使中长工作距离单模单光纤准直器的插入损耗更小、成对互配性更高,产品一致性和一次合格率更高,减小了调试时间,提高了员工的工作效率,并同样适用于特殊波段850nm、1060nm的中长工作距离的中长工作距离单模单光纤准直器,具有广泛的应用范围。
技术领域
本发明涉及光纤通信技术领域,尤其涉及光路调试技术领域,具体是指一种中长工作距离单模单光纤准直器的光斑机调试系统及方法。
背景技术
目前一般常见的中长工作距离单模单光纤准直器的调试系统是通过微调架进行反射法、透射法或全自动调试;反射法调试是用相应波长带宽的反射镜在工作距离的一半处反射法调试待调中长工作距离的单模单光纤准直器,把反射插入损耗调至到最小。光路中包含相应波长的激光点光源、均分光纤耦合器、相应波长带宽的反射镜和光功率计。透射法调试是将二支中长工作距离的单模单光纤准直器放置在距工作距离二端处,把透射插入损耗调至最小。光路中包含相应波长的激光点光源和光功率计。
由于中长工作距离单模单光纤准直器对应的中长工作距离较长,在透射法或反射法调试系统中耦合调试会非常缓慢,从而降低了员工的效率,减少的生产产量。全自动调试一般至少通过自动调节架和光功率检测器或光束质量分析仪或二者结合进行自动调试,此调试系统中设备相对较多,且比较昂贵并容易出现故障,设备中的设置也相对复杂,调试系统过于依赖设备做出的判断,从而降低了人的主观能动性。本发明一种中长工作距离单模单光纤准直器的光斑机调试系统及方法克服这些困难,还是通过人进行操作调试,并从中通过一些方法克服设备上的一些缺点和不足。
发明内容
本发明的目的是克服了上述现有技术的缺点,提供了一种能够实现提升调试精度,降低调试损耗,提高产品调试的一致性的中长工作距离单模单光纤准直器的光斑机调试系统及方法。
为了实现上述目的,本发明具有如下构成:
该中长工作距离单模单光纤准直器的光斑机调试系统,其主要特征是,所述的调试系统包括依次设置的激光点光源、调节架、中长工作距离单模单光纤准直器和光斑机,所述的光斑机包括一探头,且该探头可移动的安装在该调试系统中,且所述的中长工作距离单模单光纤准直器与所述的激光点光源相连接,所述的中长工作距离单模单光纤准直器包括单模单光纤尾纤、透镜和玻璃管,所述的单模单光纤尾纤可移动的安装在所述的调节架上,所述的透镜与所述的调节架相对固定,所述的光斑机连接有一计算机,该计算机包括一显示屏,且所述的计算机内置一光斑机软件。
较佳地,所述的调节架包括一五维调节架,所述的五维调节架包括一X-Y-Z轴单轴位移调节架和一二维调节架,所述的X-Y-Z轴单轴位移调节架包括一X轴调节旋钮和Y轴调节旋钮,所述的二维调节架包括二个二维俯仰角旋钮,所述的二维调节架上连接有一一维调节架,所述的透镜粘接于一玻璃管第一端内侧,所述的单模单光纤尾纤插入所述的玻璃管的第二端,所述的透镜通过所述的玻璃管相对固定在所述的二维调节架上,且所述的单模单光纤尾纤通过所述的一维调节架可移动的安装在所述的二维调节架上,且所述的透镜置于靠近所述的探头的一端。
较佳地,所述的透镜和所述的单模单光纤尾纤均包括一8度面,所述的透镜的8度面和所述的单模单光纤尾纤的8度面平行且相邻设置,且所述的透镜的8度面和所述的单模单光纤尾纤的8度面均镀有增透膜层。
较佳地,所述的探头通过一滑台可移动的安装于该调试系统中,所述的探头的探测面上具有一垂直相交的X1向扫描窄缝和Y2向扫描窄缝。
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