[发明专利]一种对数字隔离类器件的瞬态共模抑制参数的测试方法

权利要求书

1.一种对数字隔离类器件的瞬态共模抑制参数的测试方法，其特征在于：其步骤如下：

步骤一：选定数字隔离器件，查看器件手册中的真值表和输入低和输入高两种情况的输入电流范围信息；基于对|CM_H|与|CM_L|的定义，首先得到V_CM和相应的dt；

步骤二：数字隔离类器件CMTI测试电路设计及配置；由步骤一中对器件资料书中获得的输入电流范围信息，按照下式：

(V_FF-V_F)/R₁＝I_F

式中：

V_FF是输入电压，单位V；

V_F是HCPL-2611输入端LED的驱动电压；

R₁为输入端所接电阻；

I_F是输入电流；

计算在输入低和输入高两种情况的所需电阻值范围，选择电阻R1；将R1连接到电路板对应位置，管脚8与管脚5之间连接电容，管脚8与管脚6之间连接电阻R2；各器件与背后9根零欧姆电阻线连接完毕，电路板上多余的器件位置用导线短路；将电路板安装至高压脉冲源的测试接口上，连接高压探头与差分探头至示波器，用GPIB线连接脉冲源与电脑；

步骤三：数字隔离类器件CMTI测试；对脉冲电源进行参数调节，观察示波器中波形；

对脉冲电源进行参数调节的调节方法有手动调节与计算机调节：

手动调节：设置内部触发，延时，上升时间，脉冲电压与输出驱动电压，打开输出；

计算机调节：利用IEEE488.2指令实现计算机交互，在命令界面输入相应参数，更改脉冲源输出；

步骤四：数字隔离类器件CMTI测试结果分析；测量输出波形，记录脉冲电压与变化时间数据，各取10％到90％后根据dv/dt计算得到|CM_L|和|CM_H|，对比器件手册中的|CM_L|和|CM_H|，作出评价；

通过以上步骤，对目标器件的瞬态共模抑制参数进行测试，利用脉冲提供输入与输出的干扰，通过调节脉冲参数，得到干扰波形并评价波形数据，达到对数字隔离器件共模抑制测试与评价的效果，解决了工程上对高速光电耦合器的瞬态共模抑制不能准确评价的实际问题。

2.根据权利要求1所述的一种对数字隔离类器件的瞬态共模抑制参数的测试方法，其特征在于：在步骤一中所述的“选定数字隔离器件，查看器件手册中的真值表和输入低和输入高两种情况的输入电流范围信息”，其作法如下：器件真值表中所列的输入端和使能端分别在高电平与低电平变化时，得到相应输出电平的高低；输入端电流为I_Fmin≤I_F≤I_Fmax，对于HCPL-2611在输入为高电平时有I_Fmin＝6.5mA，I_Fmax＝15mA；输入为低电平时有I_Fmin＝0μA，I_Fmax＝250μA。

3.根据权利要求1所述的一种对数字隔离类器件的瞬态共模抑制参数的测试方法，其特征在于：在步骤二、三和四中所述的“数字隔离类器件CMTI”，是指光电耦合器件、电容耦合器件和电感耦合器件这三类器件的瞬态共模抑制，CMTI为瞬态共模抑制。

4.根据权利要求1所述的一种对数字隔离类器件的瞬态共模抑制参数的测试方法，其特征在于：在步骤二中所述的“GPIB”是指通用接口总线，用来实现脉冲源与计算机的信号连接；在步骤三中所述的“IEEE488.2”，是关于GPIB命令的标准。

5.根据权利要求1所述的一种对数字隔离类器件的瞬态共模抑制参数的测试方法，其特征在于：在步骤三中所述的“手动调节”，其作法如下：内部触发选取10Hz，延时设置为50ns，上升时间能连续调节，暂定100ns，设置AMP1＝±1kV及±1.5kV中的一种，设置AMP2＝+5V，打开输出。

6.根据权利要求1所述的一种对数字隔离类器件的瞬态共模抑制参数的测试方法，其特征在于：在步骤三中所述的“计算机调节”，其作法如下：利用GPIB命令实现计算机交互，在VB制作的接口命令界面输入相应参数，直接更改脉冲源输出，通过示波器观察波形。