[发明专利]射频电路及调节方法

说明书

本公开揭示了一种射频电路及调节方法，属于射频技术领域。所述射频电路包括：PA、射频测试座、移相器、天线测试座以及天线本体；射频测试座与PA的射频电流输出端电性相连，用于对PA输出的射频电流进行测试；天线测试座与天线本体的射频电流输入端电性相连，用于对天线本体的辐射性能进行测试；移相器设置在射频测试座与天线测试座之间，分别与射频测试座和天线测试座电性相连，用于调整PA输出的射频电流的相位；天线本体，用于根据相位调整后的射频电流辐射射频信号。本公开实施例实现了将天线与PA的功率最大点进行匹配，从而确保天线效率及OTA测试性能均达到较高水平。

技术领域

本公开涉及射频技术领域，特别涉及一种射频电路及调节方法。

背景技术

PA(PowerAmplifier，功率放大器)作为RF(Radio Freqency，无线射频)系统中的重要组成部件，用于向天线提供放大后的射频电流，由天线根据射频电流进行射频信号辐射。

为了使PA达到最大输出功率，开发人员需要预先通过负载拉移(loadpull)技术对PA和天线进行阻抗匹配。由于大功率工作状态下，PA的内阻以及工作性能会发生变化，因此PA的最大输出功率点往往并不在史密斯图(Smith Chart)的50ohm处，进而导致以50ohm为参考点进行天线调试时，天线效率较高但天线的OTA(Over The Air，空中下载技术)测试性能较差。

发明内容

为了解决相关技术中由于PA的最大输出功率点并不在史密斯图的50ohm处，导致以50ohm为参考点进行天线调试时，天线效率较高但天线的OTA测试性能较差的问题，本公开实施例提供了一种射频电路及调节方法。所述技术方案如下：

根据本公开实施例的第一方面，提供一种射频电路，该射频电路包括：PA、射频测试座、移相器、天线测试座以及天线本体；

射频测试座与PA的射频电流输出端电性相连，用于对PA输出的射频电流进行测试；

天线测试座与天线本体的射频电流输入端电性相连，用于对天线本体的辐射性能进行测试；

移相器设置在射频测试座与天线测试座之间，分别与射频测试座和天线测试座电性相连，用于调整PA输出的射频电流的相位；

天线本体，用于根据相位调整后的射频电流辐射射频信号。

可选的，移相器中包括电感电容(Inductance Capacitance，LC)移相电路或电阻电容(Resistance，Capacitance)RC移相电路；

移相器，用于通过LC移相电路调整射频电流的相位，或，通过RC移相电路调整射频电流的相位。

可选的，移相器中包括LC移相电路，且LC移相电路中包含可调电感和电容；

可调电感的第一连接端与射频测试座电性相连，可调电感的第二连接端与天线测试座电性相连；

电容的第一连接端与可调电感的第二连接端电性相连，电容的第二连接端接地；

移相器，用于通过调节可调电感的电感值来调整射频电流的相位。

可选的，移相器中包括RC移相电路，且RC移相电路中包含可调电阻和电容；

可调电阻的第一连接端与射频测试座电性相连，可调电阻的第二连接端与天线测试座电性相连；

电容的第一连接端与可调电阻的第二连接端相连，电容的第二连接端接地；

移相器，用于通过调节可调电阻的电阻值来调整射频电流的相位。

可选的，移相器的相位调整范围为0°至360°。

根据本公开实施例的第二方面，提供一种调节方法，用于如第一方面所述射频电路，该方法包括：