[发明专利]获得滑环装置的待测通道的动态接触电阻的方法

权利要求书

1.一种用于获得滑环装置(100)的待测通道的动态接触电阻的方法，其特征在于，所述滑环装置(100)包括待测通道和对照通道，所述对照通道的动态接触电阻为Ra，所述待测通道和所述对照通道中的每一者均包括依次连接的第一插针(111)、第一延长线(121)、滑针(134)、滑道(133)、第二延长线(141)和第二插针(151)，并且所述滑针(134)能够围绕所述滑道(133)旋转，所述方法包括：

S1)将所述待测通道的第一插针与对照通道的第一插针短接以形成串联通道；

S2)测量当所述滑道(133)和所述滑针(134)保持静止时所述串联通道的第一总电阻，以及测量当所述滑针(134)围绕所述滑道(133)旋转时所述串联通道的第二总电阻，并且计算第一总电阻和第二总电阻的差值，从而获得所述串联通道的动态接触电阻R，其中，当所述滑针(134)围绕所述滑道(133)旋转时，所述第一延长线(121)和所述第一插针(111)随所述滑针(134)同步地旋转；以及

S3)根据所述对照通道的动态接触电阻Ra和所述串联通道的动态接触电阻R来估算所述待测通道的动态接触电阻Rm。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对照通道为动力通道。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对照通道通过以下步骤来选择：

a)将所述滑环装置(100)的除所述待测通道之外的动力通道中的任意N个通道的第一插针(111)两两短接以形成M个串联通道，其中，N≥3并且M≥N，同时针对所述M个串联通道中的每个串联通道，测量当滑道(133)和滑针(134)保持相对静止时每个串联通道的第一总电阻，测量当滑针(134)围绕滑道(133)旋转时每个串联通道的第二总电阻，并且计算第一总电阻和第二总电阻的差值，从而获得每个串联通道的动态接触电阻，其中，当滑针(134)围绕滑道(133)旋转时，第一延长线(121)和第一插针(111)随滑针(134)同步地旋转；

b)通过所获得的M个串联通道的动态接触电阻来估算所述N个通道中每一者的动态接触电阻；以及

c)判定具有正常的动态接触电阻的通道，并将具有正常的动态接触电阻的通道中的一者选择作为所述对照通道。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，N＝3并且M＝3。

5.根据权利要求3或4所述的方法，其特征在于，所述判定具有正常的动态接触电阻的通道，并将具有正常的动态接触电阻的通道中的一者选择作为所述对照通道，包括：

将具有正常的动态接触电阻的通道中的动态接触电阻最小的一者作为对照通道。

6.一种滑环装置(100)的故障诊断方法，其特征在于，所述故障诊断方法包括：

根据权利要求1至5中任一项所述的方法来估算待测通道的动态接触电阻，

根据所述动态接触电阻判定所述待测通道是否发生故障，从而判定滑环装置(100)是否发生故障。

7.根据权利要求6所述的故障诊断方法，其特征在于，所述根据所述动态接触电阻判定所述待测通道是否发生故障，从而判定滑环装置(100)是否发生故障，包括：

如果所述动态接触电阻大于预设的动态接触电阻阈值，则判定所述滑环装置(100)发生故障。

8.一种用于获得滑环装置(100)的待测通道的动态接触电阻的辅助测量装置，其中，所述滑环装置(100)包括依次连接的第一延长线组件(120)、旋转部分(132)、静止部分(131)和第二延长线组件(140)，其特征在于，所述辅助测量装置包括：

底座(410)，支撑所述滑环装置(100)，所述静止部分(131)固定至所述底座(410)；容纳部件(420)，其容纳所述第一延长线组件(120)并且固定至所述旋转部分(132)，使得当所述旋转部分(132)旋转时，所述容纳部件(420)带动所述第一延长线组件(120)随所述旋转部分(132)同步地旋转。