[发明专利]一种薄芯片柔性扇出封装方法及所制备的封装结构有效
申请号: | 201611263093.2 | 申请日: | 2016-12-30 |
公开(公告)号: | CN106876291B | 公开(公告)日: | 2020-04-10 |
发明(设计)人: | 张雪松;王谦;陈瑜;蔡坚 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60 |
代理公司: | 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447 | 代理人: | 魏嘉熹;南毅宁 |
地址: | 100084*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 芯片 柔性 封装 方法 制备 结构 | ||
1.一种薄芯片柔性扇出封装方法,该方法包括:
将芯片嵌入柔性材料层中并使芯片功能面的焊盘扇出连接布线层。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述柔性材料为聚酰亚胺、聚对苯二甲酸乙二酯、有机硅或聚氨酯。
3.根据权利要求1所述的方法,其中,所述芯片为电源管理芯片、单片机、射频收发芯片、存储器或模拟信号调理芯片。
4.根据权利要求1所述的方法,其中,所述将芯片嵌入柔性材料中并使芯片功能面的焊盘扇出连接布线层的步骤包括:
将第一柔性材料层(102)键合在第一刚性载体(101)上;
在所述第一柔性材料层(102)上形成能够容纳芯片(104)的开口(103);其中,所述开口(103)穿透所述第一柔性材料层(102);
将芯片(104)放置在所述开口(103)中并使所述芯片(104)的功能面键合在所述第一刚性载体(101)上;
将第二柔性材料层(105)覆盖所述芯片(104)、第一柔性材料层(102)和第一刚性载体(101),得到待布线产物;
将所述待布线产物去除所述第一刚性载体(101),将第二柔性材料层(105)键合在第二刚性载体(106)上,并使所述第一柔性材料层(102)和所述芯片(104)位于所述第二柔性材料层(105)上方;
在所述第一柔性材料层(102)和所述芯片(104)的功能面上制作第一布线层(107),得到布线后产物。
5.根据权利要求4所述的方法,其中,将待布线产物去除所述第一刚性载体(101),将第二柔性材料层(105)键合在第二刚性载体(106)上,并使所述第一柔性材料层(102)和所述芯片(104)位于所述第二柔性材料层(105)上方的步骤包括:
先将所述待布线产物的第二柔性材料层(105)键合在第二刚性载体(106)上,然后去除所述第一刚性载体(101)后倒转。
6.根据权利要求1所述的封装方法,其中,所述将芯片嵌入柔性材料中并使芯片功能面的焊盘扇出连接布线层的步骤包括:
将第一柔性材料层(102)键合在第一刚性载体(101)上;
在所述第一柔性材料层(102)上形成能够容纳芯片(104)的开口(103);其中,所述开口(103)穿透所述第一柔性材料层(102);
将芯片(104)放置在所述开口(103)中并使所述芯片(104)的非功能面键合在所述第一刚性载体(101)上;
在所述第一柔性材料层(102)和所述芯片(104)上覆盖第二柔性材料层(105),并制作第一布线层(107),得到布线后产物。
7.根据权利要求1所述的封装方法,其中,所述将芯片嵌入柔性材料中并使芯片功能面的焊盘扇出连接布线层的步骤包括:
将第一柔性材料层(102)键合在第一刚性载体(101)上;
在第一柔性材料层(102)上制作金属布线层(108);
将芯片(104)的功能面通过导电粘结层(109)与所述金属布线层(108)电连接;
在所述芯片(104)、金属布线层(108)和第一柔性材料层(102)上方制作第一介质层(110)和第二布线层(111),得到布线后产物。
8.根据权利要求1所述的封装方法,其中,所述将芯片嵌入柔性材料中并使芯片功能面的焊盘扇出连接布线层的步骤包括:
将第一柔性材料层(102)键合在能透光的第一刚性载体(101)上;
在所述第一柔性材料层(102)上形成能够容纳芯片(104)的开口(103);其中,所述开口(103)穿透所述第一柔性材料层(102);
将芯片(104)放置在所述开口(103)中并使所述芯片(104)的非功能面键合在所述第一刚性载体(101)上;
在第一柔性材料层(102)、第一刚性载体(101)和所述芯片(104)的功能面上形成负性光刻胶层(112);
将光从第一刚性载体(101)的下方照射所述负性光刻胶层(112),使所述第一柔性材料层(102)和第一刚性载体(101)上方的负性光刻胶层(112)固化;将芯片(104)功能面上方的负性光刻胶层(112)去除;
在芯片(104)的功能面上制作金属布线层(108),得到布线后产物。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学,未经清华大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201611263093.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种位置获取方法以及装置
- 下一篇:具有信息输出结构的共享单车及其实现系统
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造