[发明专利]一种未成熟稻米检测设备在审
申请号: | 201611270773.7 | 申请日: | 2016-12-27 |
公开(公告)号: | CN108240986A | 公开(公告)日: | 2018-07-03 |
发明(设计)人: | 黎阳生;和毓鑫 | 申请(专利权)人: | 中国船舶重工集团公司七五○试验场 |
主分类号: | G01N21/84 | 分类号: | G01N21/84 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 650000*** | 国省代码: | 云南;53 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 样品颗粒 分离筛 透射光源 未成熟 透明 射线探测器 检测设备 处理器 稻米 指示灯 处理图像信息 电子信息技术 测量过程 检测结果 透明阵列 图像处理 图像信息 直观显示 上表面 感测 盛放 分辨 照射 测量 直观 透明度 应用 | ||
1.一种未成熟稻米检测设备,其特征在于,包括:透明阵列分离筛(1)、射线探测器(4)、透射光源(11)、处理器(8);透明分离筛(1)上表面设置有多个凹槽,凹槽用于盛放样品颗粒,并且,每个凹槽用于存放一颗样品颗粒;透射光源(11)位于透明分离筛(1)下方,照射透明分离筛(1)中的样品颗粒,射线探测器(4)位于透明分离筛(8)上方,感测来自透射光源(11)的经过样品颗粒后的光线,得到图像信息;处理器(8)处理图像信息,根据样品颗粒的透明度分辨未成熟的样品颗粒。
2.根据权利要求1所述的未成熟稻米检测设备,其特征在于,射线探测器(4)距离透明分离筛(1)水平高度30mm;透射光源(11)距离透明分离筛水平高度-30mm,负号表示位于下方。
3.根据权利要求1所述的未成熟稻米检测设备,其特征在于,还包括:样品装载漏斗(3)、刮平器(12);样品装载漏斗(3)设置在透明分离筛(1)上方,用于向透明分离筛(1)输送样品颗粒;刮平器(12)设置于样品装载漏斗(3)底部,刮平器(12)与透明分离筛(1)平行,用于刮平在透明分离筛(1)上表面堆积的样品颗粒,使得每个凹槽存放一颗样品颗粒,其余样品颗粒从透明分离筛(1)上表面被去除。
4.根据权利要求3所述的未成熟稻米检测设备,其特征在于,刮平器(12)与透明分离筛(1)中间有1mm的间隔。
5.根据权利要求3所述的未成熟稻米检测设备,其特征在于,还包括:电机(2)、导轨(13);轨道(13)用于可移动的承载透明分离筛(1),电机(2)用于驱动透明分离筛(1)的移动,透明分离筛(1)被电机驱动以从样品装载漏斗(3)的下方经过刮平器(12)到达透射光源(11)和射线探测器(4)之间。
6.根据权利要求5所述的未成熟稻米检测设备,其特征在于,还包括:限位开关(10);限位开关(10)设置于承载透明分离筛(1)的运行轨迹上,并且在透明分离筛(1)到达透射光源(11)和射线探测器(4)之间的待检测位置时被触动。
7.根据权利要求6所述的未成熟稻米检测设备,其特征在于,还包括:显示器(5)、操作键盘(6)、操作台(7)、电源(9);
显示器(5)用于显示来自处理器(8)的测量结果;显示器(5)和操作键盘(6)放置于操作台(7)上,操作键盘(6)包括:样品装载按键,检测按键,指示灯,指示灯指示操作过程中的透明分离筛(1)回位、限位、样品检测和检测完成的状态;电源(9)提供电能。
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