[发明专利]用于监测构件的方法

权利要求书

1.一种用于监测构件(10)的方法(200)，所述构件(10)具有外表面(11)，所述方法(200)包括：

使构造在所述构件(10)上的参考特征(30，30’，30”)的质心(222，322’，322”)(222)定位；

在第一时间处测量所述参考特征(30，30’，30”)的特性关于所述质心(222，322’，322”)(222)的第一值(232)；

在所述第一时间之后的第二时间处测量所述特性关于所述质心(222，322’，322”)(222)的第二值(252)；以及

比较所述第一值(232)和所述第二值(252)。

2.根据权利要求1所述的方法(200)，其特征在于，所述特性为面积、高度、宽度、周长( )、一阶惯性矩( )或二阶惯性矩( )中的一种。

3.根据权利要求1至权利要求2中任一项所述的方法(200)，其特征在于，所述参考特征(30，30’，30”)为多个参考特征(30，30’，30”)，并且还包括以下步骤(210，220，230，240，250，260)：使用于所述多个参考特征(30，30’，30”)中的各个的特性的第一值(232)平均来获得平均第一值(232)，以及使用于所述多个参考特征(30，30’，30”)中的各个的特性的第二值(252)平均来获得平均第二值(252)，并且其中所述比较步骤(210，220，230，240，250，260)包括比较所述平均第一值(232)和所述平均第二值(252)。

4.根据权利要求1至权利要求3中任一项所述的方法(200)，其特征在于，测量所述第一值(232)的步骤(210，220，230，240，250，260)在二维坐标系(100)中关于所述质心(222，322’，322”)执行，并且其中测量所述第二值(252)的步骤(210，220，230，240，250，260)在所述二维坐标系(100)中关于所述质心(222，322’，322”)执行。

5.根据权利要求1至权利要求4中任一项所述的方法(200)，其特征在于，所述方法(200)还包括在所述第一时间( )处接收所述参考特征(30，30’，30”)的图像，以及在所述第二时间( )处接收所述参考特征(30，30’，30”)的图像。

6.根据权利要求1至权利要求5中任一项所述的方法(200)，其特征在于，所述第一时间( )在所述构件(10)的操作使用之前发生，并且所述第二时间( )在所述构件(10)的操作使用之后发生。

7.根据权利要求1至权利要求6中任一项所述的方法(200)，其特征在于，所述参考特征(30，30’，30”)为构造在所述构件(10)上的应变传感器(40)的元件。

8.一种用于监测构件(10)的方法(200)，所述构件(10)具有外表面(11)，所述方法(200)包括：

使构造在所述构件(10)上的第一参考特征(30，30’，30”)和第二参考特征(30，30’，30”)的质心(222，322’，322”)(222)定位；

在第一时间( )处测量所述第一参考特征(30，30’，30”)的所述质心(222，322’，322”)(222)与所述第二参考特征(30，30’，30”)的所述质心(222，322’，322”)(222)之间的第一距离(332)；

在第二时间( )处测量所述第一参考特征(30，30’，30”)的所述质心(222，322’，322”)(222)与所述第二参考特征(30，30’，30”)的所述质心(222，322’，322”)(222)之间的第二距离(352)；以及

比较所述第一距离(332)和所述第二距离(352)。

9.根据权利要求8所述的方法(200)，其特征在于，所述方法(200)还包括将第一权重因数(372)分配至所述第一参考特征(30，30’，30”)和将第二权重因数(374)分配至所述第二参考特征(30，30’，30”)的步骤(210，220，230，240，250，260)，所述第一权重因数(372)基于所述第一参考特征(30，30’，30”)的面积，所述第二权重因数(374)基于所述第二参考特征(30，30’，30”)的面积。

10.根据权利要求8至权利要求9中任一项所述的方法(200)，其特征在于，测量所述第一距离的步骤在二维坐标系中执行，并且其中测量所述第二值的步骤在所述二维坐标系中执行。