[实用新型]顶针限位机构和测试设备

说明书

技术领域

本实用新型属于显示技术领域，具体涉及一种顶针限位机构 和测试设备。

背景技术

在显示领域中，将基板组装到显示装置之前，需要对基板进 行测试。基板通过顶料杆(LifterPin)进入到测试设备的载台上 方；测试设备的载台的四周设置有多个顶针限位机构，当顶料杆 下降、脱离基板后，由顶针限位机构支撑、固定基板，以便于在 基板上准确地标记位置记号，为后续的测试过程提供准确的位置。 其中，现有的顶针限位机构，如图1所示，包括顶针01、连接杆 02、驱动底座03，其中顶针01起到对基板04限位的作用。

通常情况下，基板为玻璃材质，为保证对基板造成影响，顶 针01采用塑料或树脂等软性材料形成。发明人发现现有技术的测 试过程中至少存在如下问题：当现有的顶针限位机构反复支撑、 固定基板04时，由于顶针限位机构与基板04反复接触摩擦，会 产生大量的小颗粒8，小颗粒8会造成基板产品不良、测试设备维 护成本提高以及测试设备故障报废等问题。

因此，设计一种对基板夹持效果好，且能够排出摩擦产生的 小颗粒的顶针限位机构和测试设备是目前亟待解决的技术问题。

实用新型内容

本实用新型针对现有的顶针限位机构的不足，提供一种新型 的顶针限位机构和测试设备。本实用新型的顶针限位机构不仅能 实现现有的顶针限位机构的一切功能，还能够吸收、排出摩擦产 生的小颗粒的功能。

解决本实用新型技术问题所采用的技术方案是提供一种顶针 限位机构，包括限位顶针、支撑部、驱动部，所述支撑部设置于 所述驱动部上方，所述限位顶针设置于所述支撑部上方，所述限 位顶针以及所述支撑部随所述驱动部移动，还包括真空吸收装置， 所述限位顶针开设有吸收孔，所述支撑部开设有连接孔，所述吸 收孔通过所述连接孔与所述真空吸收装置连通。

优选的是，所述限位顶针包括第一顶针部和位于所述第一顶 针部上方的第二顶针部，所述第二顶针部的底端面积小于所述第 一顶针部的顶端面积，所述第一顶针部的顶端未被所述第二顶针 部覆盖的区域开设有至少一个所述吸收孔，所述第二顶针部的侧 面开设有至少一个所述吸收孔。

优选的是，所述第一顶针部和所述第二顶针部的外形均为长 方体状。

优选的是，所述限位顶针的外形为柱状。

优选的是，所述限位顶针的侧面开设有至少一个所述吸收孔， 和/或，所述限位顶针的顶端开设有至少一个所述吸收孔。

优选的是，所述支撑部的外形为柱状。

优选的是，所述连接孔的入口位于所述支撑部的上表面，所 述连接孔的出口位于所述支撑部的侧面，所述真空吸收装置与所 述连接孔的所述出口连通。

优选的是，所述支撑部的侧面开设有至少一个所述吸收孔。

优选的是，所述吸收孔为圆孔或方孔，所述连接孔为圆孔或 方孔。

本实用新型提供的另一种技术方案：一种测试设备，包括上 述的顶针限位机构。

本实用新型的有益效果为：

本实用新型的顶针限位机构开设了吸收孔和连接孔，并配备 了真空吸收装置，使该顶针限位机构不仅能够对基板进行支撑、 固定起到限位的功能，还能够吸收、排出摩擦产生的小颗粒，提 高产品的良率。

本实用新型的测试设备包括上述顶针限位机构，在对基板进 行测试的过程中不仅能对基板起到支撑、固定的限位作用，还能 吸收、排出因摩擦产生的大量颗粒，避免设备故障，减少设备维 护成本。

附图说明

图1为现有的顶针限位机构的结构示意图；

图2为本实用新型实施例1的顶针限位机构的结构示意图；

图3为图2中限位顶针的结构外形图；

图4为图2中限位顶针的结构透视图；

图5为本实用新型实施例2的顶针限位机构的结构示意图；

图6为图5中限位顶针的另一种布置吸收孔的形式示意图；

图7为本实用新型实施例3的顶针限位机构的结构示意图；

其中，附图标记为：

01、顶针；02、连接杆；03、驱动底座；04、基板；

1、限位顶针；1a、第一顶针部；1b、第二顶针部；

2、支撑部；3、驱动部；4、基板；5、吸收孔；

6、连接孔；7、真空吸收装置；8、小颗粒。