[实用新型]一种数控系统驱动器测试工具

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测试工具，尤其涉及一种数控系统驱动器测试工具。

背景技术

目前现有技术的数控系统驱动器测试多是使用万用表测量芯片的静态输入输出，以致无法确定芯片在正常工作状态下是否良好。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型的目的是提供一种数控系统驱动器测试工具，以解决现有技术中的不足。

为了达到上述目的，本实用新型的目的是通过下述技术方案实现的：

一种数控系统驱动器测试工具，其中，包括第一电阻、第二电阻、第三电阻、可调电阻、发光二极管和接线端子，所述接线端子包括L1端、L2端、P端、N端、C端和R端，所述第一电阻设于外部电源与所述P端之间，所述第二电阻、所述可调电阻串联后设于外部电源与所述R端之间，所述第三电阻和所述发光二极管串联后设于所述C端和所述P端之间，所述L1端连接外部电源，所述L2端连接所述N端。

上述数控系统驱动器测试工具，其中，还包括风扇，所述风扇设于所述C端和所述P端之间。

上述数控系统驱动器测试工具，其中，所述第一电阻为10Ω，所述第二电阻为40kΩ。

与已有技术相比，本实用新型的有益效果在于：

本测试工具能够在芯片工作状态下测量出每个芯片的工作波形，简单直观地对比到每个芯片之间的差异，能够快速地具体到芯片的好坏，节省了排查故障的工作时间，也排除了因为排查问题盲目更换芯片而引起的后续驱动器不稳定因素，既节省了维修时间提高了工作效率，也保证了产品的质量。

附图说明

构成本实用新型的一部分的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：

图1示出了本实用新型数控系统驱动器测试工具的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

需要说明的是，在不冲突的情况下，本实用新型中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

参考图1所示，本实用新型数控系统驱动器测试工具包括第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、可调电阻R4、发光二极管D1和接线端子，接线端子包括L1端、L2端、P端、N端、C端和R端，第一电阻R1设于外部电源Vcc与P端之间，第二电阻R2、可调电阻R4串联后设于外部电源Vcc与R端之间，第三电阻R3和发光二极管D1串联后设于C端和P端之间，L1端连接外部电源Vcc，L2端连接N端。

在本实用新型的优选实施例中，本测试工具还包括风扇，风扇设于C端和P端之间，第一电阻R1为10Ω，第二电阻R2为40kΩ。

L1端和L2端为交流220V电压输入，P端、N端、C端分别连接放大器的P、N、C端，R端连接一个钩针直接和放大器的线路板R51连接。工作原理主要是通过工具的内部线路提供电压来模拟运转进而进行波形的测量，解决问题步骤为，首先连接好放大器以及对应工具端子线路，其次，准备好示波器做好打波形准备，最后设置好测试机器的参数，以MDS-SPJ2-110为例，参数设置为3238(8004)3239(9)3240(1009)3241(2900)，启动紧急停止EMG开关，给运转指令S1000即可进行驱动波形测试。

从上述实施例可以看出，本实用新型的优势在于：

本测试工具能够在芯片工作状态下测量出每个芯片的工作波形，简单直观地对比到每个芯片之间的差异，能够快速地具体到芯片的好坏，节省了排查故障的工作时间，也排除了因为排查问题盲目更换芯片而引起的后续驱动器不稳定因素，既节省了维修时间提高了工作效率，也保证了产品的质量。

以上对本实用新型的具体实施例进行了详细描述，但本实用新型并不限制于以上描述的具体实施例，其只是作为范例。对于本领域技术人员而言，任何等同修改和替代也都在本实用新型的范畴之中。因此，在不脱离本实用新型的精神和范围下所作出的均等变换和修改，都应涵盖在本实用新型的范围内。