[实用新型]X射线成像系统调准对中组件及光路调整套件有效

专利信息
申请号: 201620018703.1 申请日: 2016-01-08
公开(公告)号: CN205306988U 公开(公告)日: 2016-06-15
发明(设计)人: 刘利锋 申请(专利权)人: 刘利锋
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 037009 山*** 国省代码: 山西;14
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摘要:
搜索关键词: 射线 成像 系统 调准 组件 调整 套件
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及X射线成像、生物成像等领域,更具体是成像光路调整用工具。

背景技术

X射线又称伦琴射线,它是肉眼看不见的一种射线,但可使某些化合物产生荧光或使照相底片感光;它在电场或磁场中不发生偏转,能发生反射、折射、干涉、衍射等;它具有穿透物质的本领,但对不同物质它的穿透本领不同;能使分子或原子电离;有破坏细胞作用,人体不同组织对于X射线的敏感度不同,受损害程度也不同。

在背光成像实验中,X射线被弯曲晶体内部的一系列晶面反射,其与可见光反射相比,如果弯曲晶体衍射偏角足够大,X射线的反射会明显的偏移。

发明内容

本实用新型的目的是克服或减缓至少上述缺点中的部分,特此提供一种X射线成像系统调准对中组件,其包括:

光源,输出可见光或X射线;

弯曲晶体,其表面的中心接收光源的直射;

X射线胶片,位于弯曲晶体的罗兰圆上;

滤光片,位于X射线胶片相对弯曲晶体的一侧,且在其中心位置开设有正方形孔。

本实用新型旨在于,在探测器的有效探测面积较小且晶体衍射角度较大时,通过可见光在X射线胶片上的光斑作为基准,以便于测量X射线焦斑偏移的方向和距离;在取得弯曲晶体相对位置的偏移量后,就可以校准弯曲晶体的偏角。

本实用新型进一步公开了一种X射线成像系统光路调整套件,其包括:

旋转平台,具有置于平面的底座和相对底座转动转盘;

三维调节架,与转盘固定且具有调节端;

晶体安装台,与所述三维调节架的调节端固定且拆装有平面镜或弯曲晶体;

光源,输出可见光或X射线;

弯曲晶体,其表面的中心接收光源的直射;

X射线胶片,位于弯曲晶体的罗兰圆上;

滤光片,位于X射线胶片相对弯曲晶体的一侧,且在其中心位置开设有正方形孔。

优选地,所述晶体安装台相对激光器的一侧设有限光板,所述限光板具有限光孔。

另外,所述三维调节架的调节端固定有安装框,所述晶体安装台扣合在安装框内,所述限光板与安装框卡接。

进一步,所述三维调节架包括沿垂直且固定于转盘的z轴伸缩机构,于所述z轴伸缩机构固定有x轴伸缩机构,于所述x轴伸缩机构固定有y轴伸缩机构,所述调节端固定于y轴伸缩机构。

那么,由于在X射线成像装置中,主要是利用弯曲晶体的布拉格效应,使X射线反射来实现X射线的聚焦成像。要实现成像装置获取质量较好的X射线图像,以及获得较高的分辨率(时间或者空间分辨率),需要对成像装置光路进行精确调整。传统上一般利用光的反射原理通过3个反射镜和1个透镜来标记光路位置。实际上,弯曲晶体成像不同于反射镜,弯曲晶体必须要满足布拉格效应才近似于反射镜,而且弯曲晶体在加工工程中会破坏弯曲晶体内部结构。

本实用新型进一步,结合弯曲晶体布拉格衍射效应和光的反射定律,通过单一的反射镜和激光器实现X射线成像装置中弯曲晶体成像的全部光路调整,使现X射线成像装置的精度增加,达到较佳的成像效果,且消除弯曲的偏角。

附图说明

现在将参照所附附图更加详细地描述本实用新型的这些和其它方面,其所示为本实用新型的当前优选实施例。其中:

图1为本实施例的结构示意图;

图2为本实施例的X射线成像系统光路调整套件结构示意图;

图中:11、底盘;12、转盘;211、z轴套筒;212、z轴伸缩杆;213、z轴锁紧钉;221、x轴固定块;222、x轴锁紧钉;231、y轴固定块;232、y轴移动块;233、y轴锁紧钉;3、安装框;4、晶体安装台;5、限光板;6、激光器;7、X射线胶片;8、弯曲晶体。

具体实施方式

下面结合附图和具体实例,进一步阐明本实用新型,应理解这些实施例仅用于说明本实用新型而不用于限制本实用新型的范围,在阅读了本实用新型之后,本领域技术人员对本实用新型的各种等价形式的修改均落于本申请所附权利要求所限定的范围。

如图1所示,本实施例示范性的公开了一种X射线成像系统调准对中组件,其包括光源、弯曲晶体8、X射线胶片7以及滤光片;其中,光源,输出可见光或X射线;弯曲晶体8,其表面的中心接收光源的直射;X射线胶片7,位于弯曲晶体8的罗兰圆上;滤光片,位于X射线胶片7相对弯曲晶体8的一侧,且在其中心位置开设有正方形孔。

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