[实用新型]一种改进的地质实验室分析用冷热台有效
申请号: | 201620022351.7 | 申请日: | 2016-01-12 |
公开(公告)号: | CN205333500U | 公开(公告)日: | 2016-06-22 |
发明(设计)人: | 王猛;唐洪明;李玲 | 申请(专利权)人: | 西南石油大学 |
主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 610500 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 改进 地质 实验室 分析 冷热 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种地质设备,具体是一种改进的地质实验室分析用的冷热台。
背景技术
地质泛指地球的性质和特征。主要是指地球的物质组成、结构、构造、发育历史等, 包括地球的圈层分异、物理性质、化学性质、岩石性质、矿物成分、岩层和岩体的产出状 态、接触关系,地球的构造发育史、生物进化史、气候变迁史,以及矿产资源的赋存状况 和分布规律等。课堂上所学的有关矿物、岩石以及地质识图的理论知识必须通过直接的观 察鉴定,即通过感性认识,才能加深理解,得以巩固和提高。为此,根据土木工程专业需 要,安排一定数量的矿物岩石实验并记录。冷热台是专业应用在地质方面研究的设备,可 编程温度控制,温度范围在-190℃至600℃,最小温度精度可以达到0.1/0.01℃,是指全 程温度精度即包括零下温度;并且样品室空间有标准视域(20mmX20mm)和大视域(38mm X38mm)观察窗用于各种样品的观察。另外,有用于金属、冶金、制陶、高温聚合物、高 温导体、拉曼散射、地质等方面的研究。地质实验时需要在各个温度下观察测量矿石的各 种属性和其中含有的成分,矿石中的水分等会在温度过低时结冰膨胀,影响矿石的硬度, 影响实验结果,对矿石其他属性不能一起测量。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种改进的地质实验室分析用的冷热台,以解决上述背景 技术中提出的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:
一种改进的地质实验室分析用的冷热台,包括底座、水平仪、固定爪、热风机、矿石 元素X荧光光谱分析仪、冷热台本体、电子显微镜摄像头、LED灯和摩氏硬度笔,所述的 底座上设有计时器和水平仪,底座两侧设有连接件,连接件上设有伸缩杆,伸缩杆底端设 有固定爪,底座上表面中央位置设有冷热台本体,冷热台本体一侧设有矿石元素X荧光光 谱分析仪,底座上设有热风机,底座上设有设有伸缩柱,伸缩柱上端与选转接头的下沿端 连接,选转接头上沿端与横杆一端连接,横杆另一端下表面设有电子显微镜摄像头,冷热 台本体上设有凹槽,凹槽内设有通气孔,冷热台本体四个拐角设有LED灯,凹槽内壁设有 螺栓,螺栓顶端设有保护垫,冷热台本体上设有摩氏硬度笔。
作为本实用新型进一步的方案:所述的凹槽内表面涂有防腐蚀层。
作为本实用新型再进一步的方案:所述的LED灯为亮度可调式LED灯。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:本实用新型水平仪保证底座的水平方 便安置,计时器记录工作时间,通过固定爪和伸缩杆调节辅助固定避免其工作时滑动,影 响实验效果,冷热台本体上放置矿石样品,通过冷热台本体对矿石进行各个温度的调节, 矿石元素X荧光光谱分析仪检测矿石中的元素含量和在各个温度下成分的变化,热风机在 工作开始对冷热台本体上的矿石进行风干,避免其中的水分在温度过低时结冰膨胀,影响 矿石的实验结果,通过调节伸缩柱保证电子显微镜摄像头在合适的高度工作,不工作时旋 转横杆避免其阻挡其他工作,凹槽利于放置矿石样品,通气孔便于通风,避免产生气泡影 响观察效果,防腐蚀层减少矿石对其的影响,提高使用寿命,根据需要调节光照亮度,方 便实验检测,旋转螺栓使其伸缩固定住凹槽中放置的矿石,方便实验,工作保护垫保护装 置,避免其磨损,用摩氏硬度笔在矿石样品中刻画痕迹,判断矿石的硬度以及在各个温度 下硬度的变化,结构简单,使用方便,利于推广。
附图说明
图1为一种改进的地质实验室分析用的冷热台的结构示意图。
图2为一种改进的地质实验室分析用的冷热台中冷热台本体的俯视图。
图中:1、计时器,2、底座,3、水平仪,4、固定爪,5、伸缩杆,6、连接件,7、 热风机,8、矿石元素X荧光光谱分析仪,9、冷热台本体,10、电子显微镜摄像头,11、 LED灯,12、横杆,13、选转接头,14、伸缩柱,15、凹槽,16、螺栓,17、摩氏硬度笔, 18、通气孔,19、保护垫。
具体实施方式
下面结合具体实施方式对本专利的技术方案作进一步详细地说明。
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