[实用新型]用于检查两串相交孔交点误差的检具有效

专利信息
申请号: 201620039388.0 申请日: 2016-01-15
公开(公告)号: CN205300468U 公开(公告)日: 2016-06-08
发明(设计)人: 高小红;龙凤 申请(专利权)人: 重庆机床(集团)有限责任公司
主分类号: G01B5/14 分类号: G01B5/14
代理公司: 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 代理人: 赵荣之
地址: 401336*** 国省代码: 重庆;85
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摘要:
搜索关键词: 用于 检查 相交 交点 误差
【说明书】:

技术领域

本实用新型属于误差检具领域,具体涉及一种用于检查两串相交孔交点误差的检具。

背景技术

对于两串重要相交孔,传统的检测手法是采用三坐标检查仪进行测量,虽然检测精度高, 但检测周期长、效率低下,检测成本较高。

发明内容

有鉴于此,本实用新型的目的在于提供一种可缩短检测周期,提高检测效率的用于检查 两串相交孔交点误差的检具。

为达到上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种用于检查两串相交孔交点误差的 检具,包括两个可相互配合的检查轴、对应套装在两检查轴上的轴套及若干个标准块,各检 查轴一端套有轴套,其中一个检查轴的另一端上设有用于穿过另一个检查轴的让位槽。

进一步,所述轴套为阶梯式的变径轴套。

进一步,所述轴套有若干个,各轴套外径与待检孔内径尺寸一致。

本实用新型的有益效果在于:该检具结构、组成简单,可根据实际生产情况进行加工, 造价低廉,能实现快速检验,极大的节约了检验周期,提高了检验效率,节约了检验成本, 适于批量零件的快速检验。

附图说明

为了使本实用新型的目的、技术方案和有益效果更加清楚,本实用新型提供如下附图进 行说明:

图1为本实用新型的示意图;

图2为图1的A-A剖视图。

具体实施方式

下面将结合附图,对本实用新型的优选实施例进行详细的描述。

如图所示,本实施例中的用于检查两串相交孔交点误差的检具,包括两个可相互配合的 检查轴、对应套装在两检查轴上的轴套1及若干个标准块,各检查轴一端套有轴套1,其中 一个检查轴2的另一端上设有用于穿过另一个检查轴3的让位槽21。所述轴套1有若干个, 各轴套1外径与待检孔内径尺寸一致。

具体的,两根检查轴对应穿过两个相交的待检孔,各检查轴上的轴套1尺寸与待检孔的 内径尺寸一致,轴套1与待检孔紧密配合,安装在两个轴套1上的两个检查轴相交,选取合 适的标准块,测量两个相交检查轴间的间隙,此间隙即是两相交孔交点误差。当然,也可直 接将多个不同直径大小的轴套1集成在一起,即轴套为阶梯式的变径轴套,此时,只需在两 根检查轴端部各安装一个变径轴套即可。

最后说明的是,以上优选实施例仅用以说明本实用新型的技术方案而非限制,尽管通过 上述优选实施例已经对本实用新型进行了详细的描述,但本领域技术人员应当理解,可以在 形式上和细节上对其作出各种各样的改变,而不偏离本实用新型权利要求书所限定的范围。

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