[实用新型]半导体器件测试仪有效

专利信息
申请号: 201620051977.0 申请日: 2016-01-19
公开(公告)号: CN205301514U 公开(公告)日: 2016-06-08
发明(设计)人: 陈元钊;施明明;常兵;邹桂明 申请(专利权)人: 江苏七维测试技术有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260 代理人: 张欢勇
地址: 214000 江苏省无*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 半导体器件 测试仪
【权利要求书】:

1.一种半导体器件测试仪,包括测试仪本体(1),所述测试仪本体 (1)上设有操作平台(2),所述操作平台(2)凹陷于测试仪本体 (1)中,其特征在于:所述操作平台(2)上还设有不透光的罩壳(3), 所述罩壳(3)与测试仪本体(1)转动配合且所述罩壳(3)可将操 作平台(2)保持密闭。

2.根据权利要求1所述的半导体器件测试仪,其特征在于:还包括电 机(4),所述的电机(4)安装在测试仪本体(1)中且所述的电机 (4)的转轴与罩壳(3)相连。

3.根据权利要求1所述的半导体器件测试仪,其特征在于:所述罩壳 (3)与测试仪本体(1)转动配合是指罩壳(3)通过销轴(5)安装 在测试仪本体(1)的上表面。

4.根据权利要求1所述的半导体器件测试仪,其特征在于:所述罩壳 (3)与测试仪本体(1)转动配合是指所述测试仪本体(1)上设有 凹槽(6),所述罩壳(3)设在凹槽(6)内也通过销轴(5)转动配 合。

5.根据权利要求2或3或4所述的半导体器件测试仪,其特征在于:电 机(4)的转轴与罩壳(3)相连是指所述电机(4)的转轴与销轴(5) 固定连接。

6.根据权利要求1所述的半导体器件测试仪,其特征在于:还包括电 控报警系统(7),所述电控报警系统(7)包括光敏传感器(7.1)、 控制器(7.2)和蜂鸣器(7.3),所述控制器(7.2)和蜂鸣器(7.3) 均安装在测试仪本体(1)上,所述光敏传感器(7.1)安装在操作平 台(2)内,所述光敏传感器(7.1)、控制器(7.2)和蜂鸣器(7.3) 依次电连接。

7.根据权利要求3或4所述的半导体器件测试仪,其特征在于:所述 罩壳(3)与销轴(5)之间为可拆式连接。

8.根据权利要求2或3所述的半导体器件测试仪,其特征在于:所述 罩壳(3)为圆形或扇形。

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