[实用新型]一种内存高温测试箱

说明书

技术领域

本实用新型涉及机箱内部内存的测试，具体地说是一种内存高温测试箱。

背景技术

机器在使用过程中容易产生大量的热量，并在机箱内部形成一个高温环境，内存在特殊环境中使用，会出现很多常温下不易发现的故障，这些故障都会暴露出整台机器的质量问题；针对内存的测试，往往是在常温下进行的，测试温度无法与机器运转时产生的温度对比，所以隐患很难被发现。

发明内容

本实用新型的技术任务是解决现有技术的不足，提供一种内存高温测试箱。

本实用新型的技术方案是按以下方式实现的：

一种内存高温测试箱，包括测试箱体、具有测试主板的测试平台、以及连接测试平台和外部显示器的KVM切换器，所述测试主板具有电源电路和插入待测内存的插槽，插槽的电源引脚与电源电路连接以从电源电路接收电压。所述测试箱体被分割成至少两个互不连通的测试空间，所述测试平台为抽屉式结构，抽屉式结构的测试平台配合插入或拔出测试箱体的测试空间，且在测试平台配合插入测试箱体的测试空间时，测试平台和测试空间围成密封的测试环境。

进一步的，所述测试平台完全插入测试空间时裸露在外的表面设置有把手，以方便抽拉测试平台。

优选，所述测试箱体通过三块隔板分割成四个测试空间，测试平台的数量为四个，四个测试平台与四个测试空间一一对应并水平插入或拔出测试空间。

优选，所述测试主板上设置有至少一个插入待测内存的插槽，每个插槽的电源引脚分别与电源电路连接以从电源电路接收电压。

本实用新型的一种内存高温测试箱与现有技术相比所产生的有益效果是：

1）本实用新型设计合理，结构简单，旨在提供一个密封的检测空间，并模拟内存的工作状态，以对内存进行高温检测，当然，此处的“高温”是相对于内存未处于使用状态时的温度来说的；

2）在本实用新型的测试平台上安装现有结构的测试主板，将测试平台水平插入测试箱体的测试空间，由于测试平台与该测试空间围成密封的测试环境，当将内存插入测试主板的插槽且内存接收来自电源电路提供的电压时，内存会升温，即相当于模拟了内存在密闭高温条件下的检测，再通过KVM切换器连接测试平台和外部显示器，以对内存的参数性能进行实时查看；整个检测过程真实、快速，能有效了解内存在密封高温环境下的性能参数变化，在内存温度逐渐升高的过程中，及时发现并避免内存在实际使用过程中可能引发的故障，实用性强。

附图说明

附图1是本实用新型中测试箱体的结构示意图；

附图2是本实用新型中测试平台的结构示意图；；

附图3是本实用新型中测试平台完全水平插入测试箱体的测试空间的结构示意图。

附图中的标记分别表示：

1、测试箱体，2、隔板，3、测试空间，4、测试平台，5、测试主板，

6、插槽，7、把手。

具体实施方式

下面结合附图1、2、3，对本实用新型的一种内存高温测试箱作以下详细说明。

如附图所示，本实用新型的一种内存高温测试箱，其结构包括测试箱体1、具有测试主板5的测试平台4、以及连接测试平台4和外部显示器的KVM切换器，所述测试主板5具有电源电路和插入待测内存的插槽6，插槽6的电源引脚与电源电路连接以从电源电路接收电压。其中，测试箱体1、具有测试主板5的测试平台4、以及连接测试平台4和外部显示器的KVM切换器均为现有技术，所以附图中并未画出KVM切换器、以及KVM切换器连接测试平台4和外部显示器的示意图。

所述测试箱体1通过三块水平放置的隔板2分割成四个互不连通的测试空间3，所述测试平台4为抽屉式结构，数量为四个，四个抽屉式结构的测试平台4与四个测试空间3一一对应并水平插入或拔出四个测试空间3，且在测试平台4配合插入测试箱体1的测试空间3时，测试平台4和测试空间3围成密封的测试环境。

所述测试平台4完全插入测试空间3时裸露在外的表面设置有把手7，以方便抽拉测试平台4。

优选，所述测试主板5上设置有至少一个插入待测内存的插槽6，每个插槽6的电源引脚分别与电源电路连接以从电源电路接收电压。