[实用新型]一种麻点面积检测器有效
申请号: | 201620068316.9 | 申请日: | 2016-01-25 |
公开(公告)号: | CN205332993U | 公开(公告)日: | 2016-06-22 |
发明(设计)人: | 李苑标;金涛;黄俊晖;邢少斌;游扩锋;徐子俊;陈雷;范小兵;李军龙;乐俊俊 | 申请(专利权)人: | 广州文冲船厂有限责任公司 |
主分类号: | G01B5/26 | 分类号: | G01B5/26 |
代理公司: | 广州致信伟盛知识产权代理有限公司 44253 | 代理人: | 李东来 |
地址: | 510727 *** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 麻点 面积 检测器 | ||
技术领域
本实用新型涉及检测工具,特别是涉及一种检测型材表面的麻点面积的检测器。
背景技术
麻点又称为麻面,是板材、型材表面缺陷之一,表现为产品表面呈凹凸不平的粗糙面,多连续成片,也有局部的或呈周期性分布的。麻点是允许存在的缺陷,但其深度不得超过产品的厚度偏差的范围。若当麻点深度大于板厚的20%,麻点面积大于钢板面积的2%时即按夹层处理,因此麻点面积的统计对于钢板缺陷的处理方案有直接的决定作用。但目前统计麻点面积的方法没有统一的具体标准,又缺乏具体的操作工具,且现有的统计过程都较为复杂,其存在大量的预估,精确度低而出错率高。
发明内容
本实用新型旨在提供一种检测型材表面的麻点面积的检测器,以简化操作,并提高检测的准确性和检测效率。
本实用新型所述的麻点面积检测器,包括圆形平板,平板上开有圆形通孔和检测麻点直径的检测口,平板上还划有对中十字线;圆形通孔的圆心、对中十字线的中心点均与平板的圆心重合,且对中十字线的四边从通孔延伸至平板上;检测口为半圆形开口,且圆心设置于平板的圆周上;平板的面积为与检测口直径相配合的设定值。
本实用新型所述的麻点面积检测器,圆形平板的圆周边上开有检测口,且开口为半圆形,工作时将该检测口靠近所需测量的麻点,当所用检测口的大小与麻点刚好一致时,即可确定麻点的直径大小;然后将平板中心的圆形通孔套于麻点上,并利用对中十字线进行辅助,使得通孔的圆心与麻点的圆心重合;再沿平板的圆周划出平板所覆盖的范围,该范围,即平板的面积就是所测麻点的理论影响面积。在船舶领域中,按照国际船级社协会(InternationalAssociationofClassificationSocieties,简称IACS)的标准:对于单个表面不连续缺陷,受影响的面积通过在距不连续缺陷周围20mm处划一连续线来获得;对于一群表面不连续缺陷,受影响的面积通过在距这些缺陷周围20mm处划一连续线来获得。依照此标准,麻点的影响面积大小可按照麻点的大小,即麻点的直径大小而确定,如1mm直径的麻点影响面积为0.00132m2,2mm直径的麻点影响面积为0.00138m2,故而将平板的面积设置为与检测口直径相配合的设定值,此时沿着平板的圆周划线,即可方便、快捷地根据麻点的位置和直径大小确定影响面积的位置和大小;而对中十字线的设置既便于定位,又可提高定位精度;检测口设置为半圆形并于平板边上,当检测口的大小与麻点刚好一致时即可确定麻点的直径大小,其操作可视化程度高,过程方便快捷而准确。
附图说明
图1是麻点面积检测器的结构示意图。
图2是单个麻点影响区域示意图。
图3是离散型麻点影响区域示意图。
图4是密集型麻点影响区域示意图。
具体实施方式
如图1所示,一种麻点面积检测器,包括圆形平板1,平板上开有圆形通孔2和检测麻点直径的检测口3,平板上还划有对中十字线4;圆形通孔的圆心、对中十字线的中心点均与平板的圆心重合,且对中十字线的四边从通孔延伸至平板上;检测口为半圆形开口,且圆心设置于平板的圆周上;平板的面积为与检测口直径相配合的设定值。
确定麻点大小及中心点后,沿平板的圆周画出平板所覆盖的范围,即所测麻点的理论影响面积。如图2所示,为单个麻点影响区域示意图,其中覆盖麻点101的区域102即麻点的理论影响面积;如图3所示,是离散型麻点影响区域示意图,这些麻点的影响面积为阴影的面积之和;如图4所示,是密集型麻点影响区域示意图,检测员可以用最外边缘的麻点画出麻点整区边缘线,然后根据整个区域的形状采用多边形原理计算麻点影响区面积。
所述的麻点面积检测器,检测口3的直径可以是1mm,也可以是2mm、3mm、4mm或5mm中的任一种。根据日常统计,直径分别是1-5mm的麻点各占的比例大约为50%,25%,10%,3%,2%,因此几乎可认定板材、型材表面缺陷主要以1mm、2mm、3mm为主,1-5mm基本上已包括所有麻点的大小,故而相应地设置1-5mm的五种检测器,已可满足检测需求。
通孔2的直径大于5mm,并以8mm为宜。5mm以上的通孔可满足麻点的检测需求,将通孔设置为8mm,一方面可便于测量的操作,更加容易进行对准,另一方面也可减少平板的材料所需,降低检测器的重量,进一步提高操作便利性。
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