[实用新型]芯片测试封闭装置有效
申请号: | 201620374260.X | 申请日: | 2016-04-28 |
公开(公告)号: | CN205643403U | 公开(公告)日: | 2016-10-12 |
发明(设计)人: | 余丽波;刘洪 | 申请(专利权)人: | 余丽波;刘洪 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04 |
代理公司: | 北京市合德专利事务所 11244 | 代理人: | 李本源 |
地址: | 100192 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 芯片 测试 封闭 装置 | ||
【权利要求书】:
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于余丽波;刘洪,未经余丽波;刘洪许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201620374260.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:应用于物联网的智能控制终端
- 下一篇:一种轴向力测量系统