[实用新型]一种双频光源装置有效
申请号: | 201620942944.5 | 申请日: | 2016-08-25 |
公开(公告)号: | CN206211258U | 公开(公告)日: | 2017-05-31 |
发明(设计)人: | 文侨;梁国文;李冀 | 申请(专利权)人: | 深圳大学 |
主分类号: | H01S3/08 | 分类号: | H01S3/08;H01S3/10 |
代理公司: | 深圳中一专利商标事务所44237 | 代理人: | 高星 |
地址: | 518060 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 双频 光源 装置 | ||
技术领域
本实用新型属于光学技术领域,特别涉及一种双频光源装置。
背景技术
激光技术的发展有力的推动了光通信、非线性光学、高分辨光学等领域的发展,尤其在精密干涉测量方面占据了很大优势。精密干涉测量主要以激光波长作为“尺子”,利用干涉原理来测定各种参量,如加速度、位移、角位移等等。由于光波长为nm数量级,因此其分辨精度是电学、磁学元件无法比拟的。激光干涉仪以其特有的大测量范围、高分辨率和高测量精度等优点,在精密和超精密测长领域获得了广泛的应用。激光干涉使用的激光器主要为单频激光器和双频激光器。较早使用的激光测量仪器是以单频激光为基础的单频干涉仪,但该干涉仪受环境因素的影响比较严重,尤其是在测量环境恶劣、测量距离较长时受影响更为突出。主要是因为它产生的是一直流信号,在大距离测量时光能的衰减、空气湍流的存在、背景光强的变化等对激光束的干扰都会使光束发生偏移,不可避免的使激光束强度发生变化,从而导致直流光强和电平的漂移。由于单频干涉仪在测量时很大程度上受直流放大器的漂移、光接收器灵敏度和激光功率起伏的限制,因此单频激光干涉仪在高精度测量中是很难利用的。
在单频激光干涉仪的基础上发展起来的双频激光干涉仪是一种外差干涉仪,其最显著的特点是利用载波技术将被测物理量信息转换成调频或调幅信号,它克服了普通单频干涉仪测量信号直流漂移的问题,具有信号噪声小、抗环境干扰、允许光源多通道复用等诸多优点,被广泛应用于先进制造行业和纳米技术领域作为距离测量、速度测量、振动测量、形貌测量,实时位置测控等。
目前使用的双频激光器主要有塞曼双频激光、双纵模双频激光以及清华大学张书练教授课题组提出的双折射率双频激光。塞曼双频激光利用塞曼效应,该效应是指若把光源放在磁场中,光源发出的谱线将发生分裂的这种现象。塞曼双频激光器输出频差一般在1MHz以下,一般不用于高速精密激光外差干涉测量。双纵模激光器是通过控制激光器的腔长等,实现在一个激光谐振腔中输出两个纵模频率的激光,纵模频差可达600MHz-1GHz(对应的激光管长度为150mm-250mm)。双折射双频激光为在单纵模激光谐振腔内,插入一块具有双折射效应的光学元件如石英晶体、方解石等等,使得腔内的激光分裂成具有不同光学谐振腔长的o光和e光,这两束正交线偏振的双频激光振荡输出,其频差为3-40MHz之间,可通过调节双折射晶体的应力得到所需的频差。
在上述的三种双频激光器中,其共同特点为激光频率调整难度较大,且频率差调整范围较有限,比如塞曼的频差只能在比较小的范围调节,双纵模激光频差只能在比较大的范围调节,而双折射双频只能在中间某个范围调节。另外,这些双频激光器的两个频率的激光谐振腔在几何路径上完全共程,两个频率相互影响,在改变激光器的一个频率时,往往对另外一个频率造成影响,不易调频。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种双频光源装置,旨在解决传统双频光源装置频率调节范围小、频率调节困难的问题。
本实用新型是这样实现的,一种双频光源装置,包括泵浦单元、谐振腔单元以及用于将所述泵浦单元发出的泵浦光耦合至所述谐振腔单元的耦合单元;所述谐振腔单元包括共程光路段和非共程光路段,所述共程光路段设有增益介质,所述非共程光路段包括独立传输且光程不同的第一偏振段和第二偏振段,所述第一偏振段和第二偏振段传输的激光偏振方向不同;所述共程光路段和所述第一偏振段构成第一谐振腔,所述共程光路段和所述第二偏振段构成第二谐振腔;所述双频光源装置还包括用于将所述第一谐振腔产生的第一频率激光和所述第二谐振腔产生的第二频率激光输出的输出单元。
作为本实用新型的优选技术方案:
所述共程光路段和非共程光路段形成环形的谐振腔单元,所述共程光路段包括位于所述非共程光路段一侧的第一共程段和位于所述非共程光路段另一侧的第二共程段,所述第一共程段通过第一偏振分光单元连接所述第一偏振段的一端和第二偏振段的一端,所述第二共程段通过第二偏振分光单元连接所述第一偏振段的另一端和第二偏振段的另一端,所述增益介质发出的光经所述第一谐振腔形成所述第一频率激光,所述增益介质发出的光经所述第二谐振腔形成所述第二频率激光。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳大学,未经深圳大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201620942944.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。