[实用新型]一种串联快充老化控制系统

说明书

技术领域

本发明属于电子产品老化装置领域，具体地，涉及一种串联快充老化控制系统。

背景技术

目前市场上针对各个型号的电源类产品均采取点对点的即一对一的老化方式，即一个负载通道老化测试一个产品的方式，这一方式存在一个较大的弊端，即当负载通道的额定功率大大高于被老化测试产品的额定功率时，将造成设备使用效率的巨大浪费。比如一个额定功率达到100瓦的负载通道去老化一个20瓦的电源产品一天，则造成80瓦的功率余额一天未使用，大大降低了设备的使用效率。

现有技术的主要缺点是老化设备使用不够灵活，一个负载通道只能老化一个被测产品，如果产品额定功率大大低于负载通道额定功率，将造成设备使用效率上的大大浪费并且浪费能源。

发明内容

为克服现有技术中一个负载通道只能老化一个被测产品，如果产品额定功率大大低于负载通道额定功率，将造成设备使用效率上的大大浪费的弊端，本发明提供一种串联快充老化控制系统，能串联多个产品同时进行老化，可增加设备使用率，节约能源。

本发明的技术方案如下：

一种串联快充老化控制系统，包括电性串联的主MCU、电源供电模块和串联控制电路。

其中，串联控制电路包括整流桥电路以及与第一控制芯片电性连接的继电器，继电器用于将产品接入串联控制电路或者将产品从串联控制电路中断开；整流桥电路用于将接入串联控制电路中的产品串联连接。

其中，还包括电性连接的第二控制芯片和快充控制电路, 用于支持快充通信协议QC2.0、QC3.0或MTK1.0、MTK2.0，所述的快充控制电路与串联控制电路并联后串联连接主MCU。

其中，支持QC2.0、QC3.0协议的快充控制电路包括与主MCU连接的分压电路，主MCU用于控制分压电路分别产生0V、0.6V、3.3V的电压。

其中，支持MTK1.0、MTK2.0协议的快充控制电路包括与主MCU连接的恒流电路，主MCU用于控制恒流电路产生400mA的电流，所述恒流电路包括电性连接的MOS管、运算放大器和比较放大器。

其中，还包括光电隔离器和子MCU，子MCU的一端通过光电隔离器与主MCU电连接，另一端与串联控制电路或快充控制电路电性连接。

其中，还包括与主MCU电性串联的上位机监控系统和通信模块，所述通信模块包括电性连接的MAX485通信驱动电路、RS232转RS485通信转换器、拨码开关。

本发明有益效果：本发明一种串联快充老化控制系统，具有串联控制电路，能串联多个产品同时进行老化测试，大大增加设备使用率，节约能源。具体地，如果一个负载通道的功率是160瓦，单个被测产品的功率是20瓦，采用本发明所述的串联快充控制板，则可将8个该20瓦的被测试产品串联起来进行老化测试，使设备的使用容量达到该负载通道的额定容量160瓦，以此提高设备使用率，节约能源。

附图说明

图1是本发明一种串联快充老化控制系统的原理框图。

图2是本发明一种串联快充老化控制系统的串联控制电路图。

图3是本发明一种串联快充老化控制系统的STM8S003F3控制芯片。

图4是本发明一种串联快充老化控制系统的QC2.0，QC3.0快充控制电路图。

图5是本发明一种串联快充老化控制系统的MTK1.0和MTK2.0快充控制电路图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明的一种串联快充老化控制系统的技术方案做进一步说明。

如图1所示，一种串联快充老化控制系统，包括电性串联的电源供电模块、主MCU和串联控制电路。