[实用新型]一种高兼容性的快充类产品老化测试系统

权利要求书

1.一种高兼容性的快充类产品老化测试系统，其特征在于：包括电网供电模块、主控单元MCU模块、充电控制模块、充电电压电流采集模块、快充控制模块、子控单元MCU模块；

主控单元MCU模块经过电源适配器与电网供电模块电性连接，充电控制模块、充电电压电流采集模块并联后与主控单元MCU模块电性串联连接，充电控制模块、充电电压电流采集模块通过设置的充电接口与被测产品电性连接；子控单元MCU模块经过电源适配器与电网供电模块电性连接，同时子控单元MCU模块通过光电隔离器与主控单元MCU模块建立串行通信连接，快充控制模块与子控单元MCU模块电性串联连接，快充控制模块通过快充接口与被测产品电性连接。

2.根据权利要求1所述的一种高兼容性的快充类产品老化测试系统，其特征在于：所述老化测试系统还包括放电控制模块、放电电压电流采集模块，所述电控制模块、放电电压电流采集模块并联连接后与子控单元MCU模块电性串联连接，同时，放电控制模块、放电电压电流采集模块通过放电接口与被测产品电性连接。

3.根据权利要求1所述的一种高兼容性的快充类产品老化测试系统，其特征在于：所述充电控制模块包括开关三极管和开关MOS管，充电控制模块通过开关三极管驱动开关MOS管的开和关，控制充电电压的接通与断开。

4.根据权利要求2所述的一种高兼容性的快充类产品老化测试系统，其特征在于：所述放电控制模块包括电压比较器和功率MOS管，子控单元MCU模块的控制信号输入到电压比较器的同相端，电流信号输入电压比较器的反相端，子控单元MCU模块采集经过功率MOS管的电流，控制信号和电流信号经过电压比较器后输出控制信号到功率MOS管栅极。

5.根据权利要求2所述的一种高兼容性的快充类产品老化测试系统，其特征在于：放电电压电流检测模块包括电压分压电路、电流取样电路和放大电路，产品电压接入电压分压电路，经分压后输入到子控单元MCU模块进行电压采集；电流取样电路包括在放电电流流经的通路中串联的取样电阻；放大电路用于将电流信号进行信号放大后接入子控单元MCU模块的ADC转换模块进行电流信号的采集。

6.根据权利要求1所述的一种高兼容性的快充类产品老化测试系统，其特征在于：所述快充控制模块包括快充控制电压信号产生电路，用于支持快充通信协议QC2.0、QC3.0或MTK。

7.根据权利要求6所述的一种高兼容性的快充类产品老化测试系统，其特征在于：支持QC2.0、QC3.0协议的快充控制电压信号产生电路包括控制芯片和分压电路，控制芯片用于控制分压电路分别产生0V、0.6V、3.3V的电压。

8.根据权利要求6所述的一种高兼容性的快充类产品老化测试系统，其特征在于：支持MTK协议的快充控制电压信号产生电路包括控制芯片和恒流电路，控制芯片用于控制恒流电路分别产生0mA、500mA的电流。

9.根据权利要求1所述的一种高兼容性的快充类产品老化测试系统，其特征在于：所述充电接口和放电接口数量为多个。

10.根据权利要求1所述的一种高兼容性的快充类产品老化测试系统，其特征在于：老化测试系统还包括上位机监控系统和RS232转RS485通信模块，所述上位机监控系统电连接电网供电模块，同时通过RS232转RS485通信模块与主控单元MCU模块建立串行通信电性连接。