[实用新型]集成芯片故障检测装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及检测装置，尤其涉及一种集成芯片故障检测装置。

背景技术

在实验室中，设计电路时经常会用到集成芯片，很多集成芯片经过反复使用后不能确定是否存在损坏情况。若芯片已损坏，使用芯片设计电路时，即使电路设计正确，得到的结果也与模拟结果不相同，导致话费更长的时间去查找错误，造成人力物力浪费。因此在芯片使用前保证芯片完好、可以正常使用，是在设计电路前必要的准备工作。

目前，市面上的集成芯片的检测仪成本高，价格昂贵，不利于普及，但普通的检测方法又不能很好的检测出集成芯片的故障。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型提供一种成本低的，同时又能满足检测精度和检测效率的集成芯片故障检测装置。

本实用新型实施例提供一种集成芯片故障检测装置，包括：单片机、输入模块、输出模块，

输入待测芯片型号的所述输入模块与所述单片机输入接口连接；

所述单片机与所述待测芯片连接，根据所述待测芯片的型号输出对应的测试样本至所述待测芯片，并根据得到的所述待测芯片的输出结果判断所述待测芯片是否损坏；

输出判断结果的所述输出模块与所述单片机的输出接口连接。

可选的，在本实用新型实施例中，还包括：键盘显示接口芯片，所述输入模块与所述输出模块均通过所述键盘显示接口芯片与所述单片机连接。

可选的，在本实用新型实施例中，还包括：可编程输入输出接口，所述待测芯片通过所述可编程输入输出接口与所述单片机连接。

可选的，在本实用新型实施例中，还包括：存储不同所述待测芯片的所述测试样本和标准结果的存储器。

可选的，在本实用新型实施例中，所述单片机根据所述待测芯片型号，在所述存储器中调用不同的所述测试样本；

所述待测芯片根据所述测试样本运行得到的输出结果传输至所述单片机；

所述单片机调用所述存储器内对应的所述标准结果，并将所述标准结果与输出结果进行比对，如比对结果不同，则所述待测芯片损坏，反之则所述待测芯片未损坏。

可选的，在本实用新型实施例中，还包括：芯片插座，所述待测芯片插入所述芯片插座后与所述单片机连接。

可选的，在本实用新型实施例中，所述输入模块输入所述单片机的控制指令。

可选的，在本实用新型实施例中，还包括：为所述集成芯片的故障检测装置、所述待测芯片供电的电源。

可选的，在本实用新型实施例中，所述输出模块为光电器件，所述光电器件通过不同的显示输出不同的判断结果。

可选的，在本实用新型实施例中，所述输出模块为电声器件，所述电声器件根据不同的判断结果输出不同的语音提示。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型一实施例一种集成芯片的故障检测装置的结构示意图；

图2为本实用新型再一实施例一种集成芯片的故障检测装置的结构示意图；

图3为本实用新型又一实施例一种集成芯片的故障检测装置的结构示意图；

图4为本实用新型还一实施例一种集成芯片的故障检测装置的结构示意图。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

图1为本实用新型一实施例一种集成芯片的故障检测装置的结构示意图，如图所示，包括：单片机1、输入模块2、输出模块3，

输入待测芯片4型号的所述输入模块2与所述单片机1输入接口连接；

所述单片机1与所述待测芯片4连接，根据所述待测芯片4的型号输出对应的测试样本至所述待测芯片4，并根据得到的所述待测芯片4的输出结果判断所述待测芯片4是否损坏；

输出判断结果的所述输出模块3与所述单片机1的输出接口连接。