[实用新型]一种多电极的能量积分型X射线能谱探测器有效

专利信息
申请号: 201621060663.3 申请日: 2016-09-18
公开(公告)号: CN206526054U 公开(公告)日: 2017-09-29
发明(设计)人: 史再峰;孟庆振;高阳;谢向桅;王晶波 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所12201 代理人: 杜文茹
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 电极 能量 积分 射线 探测器
【权利要求书】:

1.一种多电极的能量积分型X射线能谱探测器,包括无掺杂的本征半导体敏感区(105),所述本征半导体敏感区(105)的一侧表面通过重掺杂形成P型区(106),所述本征半导体敏感区(105)的另一侧表面通过重掺杂形成N型区(107),所述P型区(106)远离本征半导体敏感区(105)一侧的表面上设置有背面电极(108),其特征在于,所述本征半导体敏感区(105)和N型区(107)部分采用浅沟槽隔离结构被隔离为沿X射线能谱探测器宽度方向具有2个以上的像素单元的结构,每一个所述的像素单元的N型区(107)远离本征半导体敏感区(105)一侧的表面上由上至下设置有长度依次递增的第一正面电极(101)、第二正面电极(102)和第三正面电极(103),所述每一个像素单元的第一正面电极(101)、第二正面电极(102)和第三正面电极(103)分别各依次通过一个整形滤波器(109)和一个电荷积分器(110)共同连接本像素单元中的集成电路处理器(111),每一个所述的像素单元的上端表面构成X射线(104)的入射面。

2.根据权利要求1所述一种多电极的能量积分型X射线能谱探测器,其特征在于,所述的浅沟槽隔离结构是在所述本征半导体敏感区(105)和N型区(107)部分长度方向形成有1个以上的浅沟隔离槽,每一个所述的浅沟隔离槽内都嵌入有绝缘层(112)。

3.根据权利要求2所述一种多电极的能量积分型X射线能谱探测器,其特征在于,所述浅沟隔离槽的槽底位于本征半导体敏感区(105)的厚度之间。

4.根据权利要求1所述一种多电极的能量积分型X射线能谱探测器,其特征在于,所述第一正面电极(101)的长度为:1cm~1.5cm,所述第二正面电极(102)的长度为:1.5cm~2.0cm,所述第三正面电极(103)的长度为:2.5cm~3.0cm。

5.根据权利要求1所述一种多电极的能量积分型X射线能谱探测器,其特征在于,所述第一正面电极(101)、第二正面电极(102)和第三正面电极(103)的厚度相同,均为0.0001cm~0.0005cm。

6.根据权利要求1所述一种多电极的能量积分型X射线能谱探测器,其特征在于,所述第一正面电极(101)、第二正面电极(102)和第三正面电极(103)的宽度相同,均为0.02cm~0.07cm。

7.根据权利要求1所述一种多电极的能量积分型X射线能谱探测器,其特征在于,由所述背面电极(108)、P型区(106)、本征半导体敏感区(105)、N型区(107)和正面电极构成的X射线能谱探测器的线阵长度为5cm~6cm;宽度为3×0.02cm~3×0.07cm;,厚度为0.05cm~0.06cm。

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