[实用新型]基于多激光测头的平面度快速检测设备

说明书

技术领域

本实用新型涉及光电测量技术领域，尤其是涉及平面度检测技术领域。

背景技术

平面度是属于形位公差中的一种，指物体表面具有的宏观凹凸高度相对理想平面的偏差。在传统的检测方法中，平面度的测量通常有：塞规/塞尺测量法、液平面法、激光平面干涉仪测量法（平晶干涉法）、水平仪/数字水平仪测量法、以及打表测量法。

塞尺测量法，只需一套可随身携带的塞尺就可随时随地进行平面度的粗测。目前很多工厂仍使用该方法进行检测。由于其精度不高，常规最薄塞尺为10um，检测效率较低，结果不够全面，只能检测零件边缘。

液平面法，基于连通器工作原理，适合测量连续或不连续的大平面的平面度，但测量时间长，且对温度敏感，仅适用于测量精度较低的平面。

激光平面干涉仪测量法，最典型的用法是平晶干涉法。但主要于测量光洁的小平面的测量，如手机平面度测量，手机中框平面度测量，量规的工作面，光学透镜。

水平仪测量法，广泛用于工件表面的直线度和平面度测量。测量精度高、稳定性好、体积小、携带方便。但是用该方法测量时需要反复挪动仪器位置，记录各测点的数据，费时、费力，调整时间长，数据处理程序繁琐。

打表测量法，典型应用为平板测微仪及三坐标仪，其中优以三坐标仪为应用最广泛。测量时指示器在待测样品上移动，按选定的布点测取各测量点相对于测量基准的数据，再经过数据处理评定出平面度误差。但其效率较低，通常一个样品需要几分钟，离15ppm的期望相差甚远。

发明内容

本实用新型的目的在于提供一种基于多激光测头的平面度快速检测设备，体积小，检测方便、快捷。

为达到上述目的，本实用新型采用如下技术方案：

基于多激光测头的平面度快速检测设备，包括有机座，该机座上端设有检测区，检测区下底透视，在检测区上设有活动夹具，活动夹具用于将被测产品平贴固定在检测区上；在检测区的下方设有多组激光位移测头，多组激光位移测头移动扫描被测产品而获得被测产品表面上的点，多组激光位移测头及其连接的电脑藏于机座内，电脑连接的显示器架设在机座上。

所述多组激光位移测头同步移动，通过马达丝杆机构驱动。

所述机座上设有可收折的键盘托，键盘托上设有键盘夹及鼠标罩。

所述键盘托通过液压杆支顶展开，机座上设有凹槽，该凹槽供键盘托收折容纳。

本实用新型提供的基于多激光测头的平面度快速检测设备，采用光电检测技术，优化产品结构，从而到达体积小，检测方便、快捷，检测精度高、稳定性好，适合工业化生产需求，满足多种尺寸大小的产品检测。

附图说明：

附图1为本实用新型较佳实施例结构示意图；

附图2为图1实施例的局部放大图；

附图3为图1实施例的正视图；

附图4为图1实施例的多组激光位移测头工作示意图。

具体实施方式：

以下将结合附图对本实用新型的构思、具体结构及产生的技术效果作进一步说明，以充分地了解本实用新型的目的、特征和效果。

参阅图1、2、3、4所示，本实用新型有关一种基于多激光测头的平面度快速检测设备，包括有机座1，机座1为卧式设计，机座1上端设有检测区11，检测区11下底透视，在检测区11上设有活动夹具14，活动夹具用于将被测产品平贴固定在检测区11上。活动夹具14可调整，如图1、2实施例例中，在检测区11上设有多个定位孔111，定位孔111配合活动夹具定位设置，以满足不同尺寸产品的检测，检测区11还可根据检测产品的大小，利用活动夹具调整形成单工位或多工位，由此提升检测效率。在检测区11的下方设有多组激光位移测头2，多组激光位移测头2移动扫描被测产品而获得被测产品表面上的点，多组激光位移测头2及其连接的电脑藏于机座1内，电脑连接的显示器3架设在机座1上，显示器3给予视觉显示，方便检测。本实施例中，所述多组激光位移测头2同步移动，通过马达丝杆机构驱动，切换产品检测时，可实现自动定位调整，无需手动调节激光位移测头2的位置。多组激光位移测头2同时扫描被测产品，获取被测产品表面点云数据及厚度值，然后由电脑根据获取的点云计算平面度，取点数量根据客户要求可以任意设置。平面度计算：利用获取的产品表面点云拟合第一平面，上平移第一平面获得上平面，下平移第一平面获得下平面，使得参与拟合第一平面的点都位于上平面和下平面之间，其中第一平面上方到第一平面的距离最大的点在上平面上，第一平面下方到第一平面的距离最大的点在下平面上，由此上平面和下平面之间的距离即为平面度。