[实用新型]一种ATE数字测试系统有效
| 申请号： | 201621095853.9 | 申请日： | 2016-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN206194378U | 公开（公告）日： | 2017-05-24 |
| 发明（设计）人： | 高爽;王浩 | 申请（专利权）人： | 江苏艾科半导体有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 南京申云知识产权代理事务所(普通合伙)32274 | 代理人： | 邱兴天 |
| 地址： | 212009 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 ate 数字 测试 系统 | ||
【权利要求书】：
1.一种ATE数字测试系统，其特征在于，包括地址发生器、图形存储器、指令存储器、自检存储器以及驱动器，地址发生器与图形存储器、指令存储器和自检存储器均连接，自检存储器与总线相连，图形存储器与驱动器相连。
2.根据权利要求1所述的ATE数字测试系统，其特征在于，所述的自检存储器采用ISSI公司的IS61LV12824产品，为128K*24位的静态存储器。
3.根据权利要求1所述的ATE数字测试系统，其特征在于，所述的地址发生器为ALTERA公司的EP1C6Q240C8产品，主要作用是产生地址。
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