[实用新型]一种光电开关阵列检测装置及设备有效

专利信息
申请号: 201621108730.4 申请日: 2016-10-08
公开(公告)号: CN206387920U 公开(公告)日: 2017-08-08
发明(设计)人: 石晶 申请(专利权)人: 广州杰赛科技股份有限公司
主分类号: G01V8/22 分类号: G01V8/22
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司44202 代理人: 麦小婵,郝传鑫
地址: 510310 广东省广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 光电开关 阵列 检测 装置 设备
【权利要求书】:

1.一种光电开关阵列检测装置,其特征在于,包括光发射组件、聚光装置、散射装置、光接收组件以及用于给所述光发射组件和所述光接收组件供电的电源端口;所述聚光装置设置于所述光发射组件与所述光接收组件之间,所述散射装置设置于所述聚光装置与所述光接收组件之间;

所述光发射组件,包括至少两个光发射元件,用于发射出光束以形成第一平行光束组;

所述聚光装置,用于将接收到的所述第一平行光束组会聚成第二平行光束组;其中,所述第二平行光束组的横截面的面积小于所述第一平行光束组的横截面的面积;

所述散射装置,用于将接收到的所述第二平行光束组散射成第三平行光束组;其中,所述第三平行光束组的横截面的面积大于所述第二平行光束组的横截面的面积;

所述光接收组件,包括与所述的至少两个光发射元件对应的至少两个光接收元件,并用于接收所述第三平行光束组。

2.根据权利要求1所述的光电开关阵列检测装置,其特征在于,所述聚光装置包括包含有多个第一反射元件的第一反射组和包含有多个第二反射元件的第二反射组,所述第一反射组位于所述第二反射组和所述光发射组件之间,所述第一反射元件的第一反射面与所述第二反射元件的第二反射面一一对应,所述第一反射面与所述光发射元件一一对应且所述第一反射面朝向所述光发射组件的中轴线,所述第一反射面和与其对应的所述第二反射面平行且相对;所述第一反射面与所述中轴线的夹角随所述第一反射面到所述中轴线的距离的减小而依次减小。

3.根据权利要求1所述的光电开关阵列检测装置,其特征在于,所述聚光装置包括包含有多个第一反射元件的第一反射组和包含有多个第二反射元件的第二反射组,所述第一反射组位于所述第二反射组和所述光发射组件之间,所述第一反射元件的第一反射面与所述第二反射元件的第二反射面一一对应,所述第一反射面与所述光发射元件一一对应,所述第一反射面和与其对应的所述第二反射面平行且相对;位于同一行或同一列的所述第一反射元件的所述第一反射面平行,并与水平面呈预定的夹角,且所述夹角随所述第一反射面到所述光发射组件的中轴线的距离的减小而依次减小。

4.根据权利要求2或3所述的光电开关阵列检测装置,其特征在于,所述散射装置包括包含有多个第三反射元件的第三反射组和包含有多个第四反射元件的第四反射组,所述第四反射组位于所述第三反射组和所述光接收组件之间,所述第三反射元件的第三反射面与所述第四反射元件的第四反射面一一对应,所述第四反射面与所述第三反射面平行且相对,所述第三反射面与所述第二反射面一一对应且所述第三反射面和与其对应的所述第二反射面成镜像关系,所述第四反射面与所述第一反射面一一对应且所述第四反射面和与其对应的所述第一反射面成镜像关系,所述第四反射面与所述光接收元件一一对应。

5.根据权利要求1所述的光电开关阵列检测装置,其特征在于,所述聚光装置包括包含有多个第一凸透镜的第一凸透镜组和包含有多个第一凹透镜的第一凹透镜组,所述第一凸透镜组位于所述第一凹透镜组与所述光发射元件之间,所述第一凸透镜与所述第一凹透镜一一对应并与所述光发射元件一一对应。

6.根据权利要求5所述的光电开关阵列检测装置,其特征在于,所述散射装置包括包含有多个第二凹透镜的第二凹透镜组和包含有多个第二凸透镜的第二凸透镜组,所述第二凸透镜组位于所述第二凸透镜组与所述光接收元件之间,所述第二凸透镜与所述第二凹透镜一一对应并与所述光接收元件一一对应。

7.根据权利要求1所述的光电开关阵列检测装置,其特征在于,所述聚光装置包括一个与所述光发射组件对应的第一凸透镜和一个与所述第一凸透镜对应的第一凹透镜,所述第一凸透镜位于所述第一凹透镜与所述光发射元件之间;所述第一凸透镜的焦点与所述第一凹透镜的焦点重合,且所述第一凸透镜与所述第一凹透镜之间的距离等于两者的焦距之差。

8.根据权利要求7所述的光电开关阵列检测装置,其特征在于,所述散射装置包括一个与所述光接收组件对应的第二凸透镜和一个与所述第二凸透镜对应以及与所述第一凹透镜对应的第二凹透镜,所述第二凸透镜位于所述第二凹透镜与所述光接收元件之间;所述第二凸透镜的焦点与所述第二凹透镜的焦点重合,且所述第二凸透镜与所述第二凹透镜之间的距离等于两者的焦距之差。

9.一种光电开关阵列检测设备,其特征在于,包括如权利要求1至8任意一项所述的光电开关阵列检测装置。

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