[实用新型]一种液晶面板测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及产品测试领域，特别涉及一种液晶面板测试装置。

背景技术

液晶面板是由大量的像素点所组成的，它们都能够显示黑白两色和红、黄、蓝三原色。再由显示着不同颜色的像素点进行组合，我们便可以看到液晶面板所显示的图像。一个像素点即是一个发光点。每个发光点都有独立的晶体管来控制其电流的强弱，如果控制该点的晶体管坏掉，就会造成该光点永远点亮或不亮。这就是通常提到的亮点或暗点，统称为“坏点”或“不良点”。这些液晶面板在生产过程中需要经过点灯测试工序来测试液晶面板上不良点的坐标，即亮点或暗点等缺陷点的坐标，随后再对这些不良点进行修复。

点灯测试方式主要有Full Pin，Quick以及S/B方式。Quick和S/B点灯测试方式一般会将所有的数据信号(Data)端子相互连接形成一个Data信号接收端，对于扫描信号(Gate)，则将奇数行的Gate信号端子相互连接形成第一Gate信号接收端，将偶数行的Gate信号端子相互连接形成第二Gate信号接收端，这种测试方式成本低，测试治具容易制作。

然而，如图1所示，目前使用Full Pin点灯方式可以进行不良点点坐标的标记，Quick和S/B方式无法实现点坐标的标记。但是，使用Full Pin点灯方式进行不良点点坐标的标记需要高精度的探针压头(Block)，存在点灯成本高的问题。

因此，需要一种利用Quick或S/B点灯方式进行不良点点坐标标记以降低点标记成本的方法。

实用新型内容

为此，本实用新型实施例提供一种使用参考面板获得点缺陷坐标信息的液晶面板测试装置，以降低点灯测试成本。

根据本实用新型，提供一种液晶面板测试装置，用于对待测液晶面板进行点灯测试，其特征在于，包括：LED灯箱，用于提供背光；参考面板，用于提供坐标信息；第一信号发生器，与参考面板相连接，用于在测试时驱动参考面板；第二信号发生器，与待测液晶面板相连接，用于在测试时驱动待测液晶面板；以及文件服务器，与第一信号发生器相连接，用于记录待测液晶面板的缺陷坐标信息。

优选地，所述参考面板包括对齐标记，所述液晶面板测试装置还包括：图像定位设备，用于对参考面板上的对齐标记进行抓取对齐，使得待测液晶面板与参考面板在测试时重合对齐。

优选地，所述图像定位设备为CCD图像传感器。

优选地，所述对齐标记为十字标记。

优选地，所述参考面板设置在待测液晶面板上方或下方。

优选地，所述参考面板的尺寸等于所述待测液晶面板的尺寸。

优选地，所述参考面板的点分辨率等于所述待测液晶面板的点分辨率。

优选地，所述参考面板与待测液晶面板间隔5～10um。

优选地，所述参考面板为FOG面板。

优选地，所述LED灯箱的亮度大于等于50,000cd/m²。

本实用新型实施例利用参考面板(例如，FOG面板)可标记点坐标，将参考面板与待测液晶面板重合对齐，利用参考面板的点坐标标记能力对待测液晶面板实施标记，从而提供一种使用Quick或S/B点灯方式实现对不良点点坐标进行的方法和系统，达到降低点灯成本的目的。

附图说明

图1为描述现有技术中的点坐标标记方法表格示意图；

图2为描述常规的点坐标传送流程图；

图3为根据本实用新型实施例的液晶面板测试装置流程图；

图4为根据本实用新型实施例的一种点灯测试中的液晶面板测试装置示意图；以及

图5和6为根据本实用新型实施例的参考面板与待测液晶面板的对齐方式示意图。

具体实施方式

下面结合附图，对本实用新型实施例提供的实现点灯测试中的点标记方法、系统等进行详细描述。对于本领域普通技术人员而言，本实用新型可以以多种不同形式来体现，不应被解释为受限于这里所提及的具体实施例和特定细节。全文中同样的标号指代同样的元件。

图2描述了常规的点坐标传送流程图。通常，整个液晶面板(或称Cell)以取向剂涂布(PI)、摩擦取向(RUB)、液晶注入(ODF)、切割(CUT)、偏光板贴附(POL)、点灯测试(LOT)的顺序进行生产。在生产液晶面板时，首先将阵列基板与彩膜基板经过配向，注入液晶，对齐压合，切割裂片制程后，贴附偏光片,再进行点灯测试。