[实用新型]一种用于高精度主被动探测系统的光轴监测装置有效

专利信息
申请号: 201621119762.4 申请日: 2016-10-13
公开(公告)号: CN206411264U 公开(公告)日: 2017-08-15
发明(设计)人: 况耀武;舒嵘;何志平;黄庚华;王海伟 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所
主分类号: G01S7/497 分类号: G01S7/497
代理公司: 上海新天专利代理有限公司31213 代理人: 郭英
地址: 200083 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 高精度 被动 探测 系统 光轴 监测 装置
【权利要求书】:

1.一种用于高精度主被动探测系统的光轴监测装置,主要包括激光发射系统(1)、光轴分离组件(2)、共用望远镜(3)、分色片(4)、被动成像系统(5)、激光接收系统(6)和光轴监测相机(7)部分,其特征在于:

所述的光轴分离组件(2)中的入射镜(2-1)位于激光发射系统(1)的发射光路中,出射镜(2-2)位于共用望远镜(3)的接收口径范围内;

所述的激光发射系统(1)发射的激光束透过入射镜(2-1)后的探测光束(1-1)的光轴与共用望远镜(3)的光轴成θ角,θ为不小于0.5°的角度值,共用望远镜(3)为被动成像系统(5)、激光接收系统(6)和光轴监测相机(7)的共用光路部分,其中光轴监测相机(7)的光轴与共用望远镜(3)的光轴重合,被动成像系统(5)和激光接收系统(6)的光轴与共用望远镜(3)的光轴成θ角,被动成像系统(5)和激光接收系统(6)光路通过分色片(4)进行分离;

所述的激光发射系统(1)发射的激光束被光轴分离组件(2)的入射镜(2-1)分成两束,其中探测光束(1-1)透射后打到地面目标上,被目标漫反射后回波信号被共用望远镜(3)接收后透过分色片(4)进入激光接收系统(6),同时地面目标自身辐射的信号也被共用望远镜(3)收集,经分色片(4)反射后进入被动成像系统(5)成像;光轴监测光束(1-2)被光轴分离组件(2)的出射镜(2-2)前后表面反射后形成望远镜光轴监测光束(1-3)和成像光轴监测光束(1-4)入射至共用望远镜(3),分别被光轴监测相机(7)和被动成像系统(5)接收。

2.根据权利要求1所述的一种用于高精度主被动探测系统的光轴监测装置,其特征在于:激光发射系统(1)发射的激光束被光轴分离组件(2)折转后形成的望远镜光轴监测光束(1-3)被光轴监测相机(7)接收,形成的光斑用于监测激光发射系统(1)和共用望远镜(3)之间的光轴变化,成像光轴监测光束(1-4)由被动成像系统(5)接收,形成的光斑用于监测激光发射系统(1)、共用望远镜(3)和被动成像系统(5)之间的光轴相对变化。

3.根据权利要求1所述的一种用于高精度主被动探测系统的光轴监测装置,其特征在于:所述的光轴分离组件(2)由入射镜(2-1)、出射镜(2-2)和结构框架(2-3)组成,入射镜(2-1)和出射镜(2-2)安装于一个一体化的结构框架(2-3)内,结构框架(2-3)的材料可以为钛合金、殷钢或其他热膨胀系数小于10-5/℃的材料,其中入射镜(2-1)和出射镜(2-2)的前表面法线与共用望远镜(3)的光轴分别成45°和-45°,入射镜(2-1)的后表面相对前表面有一个楔角ω1,满足以下关系:

其中n为入射镜(2-1)材料折射率,I和I’分别为光束在前表面的入射角和折射角,单位为角度,θ为权利要求1中所述的角度值;

出射镜(2-2)的后表面相对前表面有一个楔角ω2,满足以下关系:

n·sin(I'+2ω2)=sin(I+θ),sin I=n·sin I'

其中n为出射镜(2-2)材料折射率,I和I’分别为光束在前表面的入射角和折射角,单位为角度,θ为权利要求1中所述的角度值。

4.根据权利要求1所述的一种用于高精度主被动探测系统的光轴监测装置,其特征在于:所述的入射镜(2-1)前表面镀分光膜,后表面镀对应激光发射系统波长的增透膜。

5.根据权利要求1所述的一种用于高精度主被动探测系统的光轴监测装置,其特征在于:所述的出射镜(2-2)前表面镀分光膜,后表面镀对应激光发射系统波长的内反射膜。

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