[实用新型]一种用于超声波自动测厚的探头保护装置有效
申请号: | 201621134543.3 | 申请日: | 2016-10-18 |
公开(公告)号: | CN206146397U | 公开(公告)日: | 2017-05-03 |
发明(设计)人: | 云鹏;刘柯;周彩红;刘勇 | 申请(专利权)人: | 北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院 |
主分类号: | G01B17/02 | 分类号: | G01B17/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100076 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 超声波 自动 探头 保护装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及超声波技术领域,尤其涉及一种用于超声波自动测厚的探头保护装置。
背景技术
随着航空航天业的迅速发展,航空、航天型材在型号产品中的使用日趋增多。其中,管件类型材已被广泛应用于诸多型号产品中。
对管件壁厚的测量方法,目前可以采用三坐标、超声波测厚等测量方法。采用三坐标测量精度高,但受探头长度限制,只能测量距管件端面300mm以内位置的壁厚。而采用手持式超声波测厚仪测量,可以实现任意位置壁厚的测量,但是由于手持测量无法使探头准确找到圆管顶点,无法沿直径方向测量,测量误差大、重复性差。如果将超声波测厚仪探头固定加装在测量设备中直接进行自动测量,在自动测量管件壁厚的过程中,超声波测厚仪探头直接与管件管壁进行刚性接触,容易造成对超声波测厚仪探头的挤压与变形甚至破坏,导致测量数据不准确或无法形成有效测量数据。
实用新型内容
(一)要解决的技术问题
本实用新型要解决的技术问题是解决在对管件进行厚度测量时,探头与管件硬刚性接触容易损伤探头的问题。
(二)技术方案
为了解决上述技术问题,本实用新型提供了一种用于超声波自动测厚的探头保护装置,包括第一工作台面、第二工作台面和固定架,所述第一工作台面与所述第二工作台面在竖直方向上滑动连接,所述固定架卡设于探头上且与所述第一工作台面或所述第二工作台面连接,用于使所述探头在竖直方向上移动。
其中,所述第一工作台面上设有第一滑槽,所述第二工作台面上设有与所述第一滑槽配合的第一滑块。
其中,所述第一滑槽的形状为燕尾形。
其中,所述第一滑块上沿竖直方向设有第二滑槽,所述第一滑槽的相对位置设有与所述第二滑槽配合的滑杆,所述第二滑槽内设有连接杆,所述滑杆和所述连接杆通过弹性件连接。
其中,所述弹性件为弹簧,所述弹簧沿竖直方向设置。
其中,所述第二滑槽的数量为多条。
其中,所述固定架包括相对设置固定板和压帽,所述固定板的两端和所述压帽的两端分别贴合固定,所述固定板与所述压帽相对的面上设有第一卡槽,所述压帽的相对位置上设有第二卡槽,所述第一卡槽和所述第二卡槽相对设置将探头卡紧固定。
其中,所述第一卡槽的形状为V形,所述第二卡槽的形状为与探头的外圆周相适配的圆弧形。
(三)有益效果
本实用新型的上述技术方案具有如下优点:本实用新型提供了一种用于超声波自动测量的探头保护装置,包括第一工作台面、第二工作台面和固定架,第一工作台面与第二工作台面在竖直方向上滑动连接,固定架卡设于探头上且与第一工作台面或第二工作台面连接,用于使探头在竖直方向上移动。在使用时,将第一工作台面或第二工作台面固定在超声波自动测厚装置的可以上下移动的Z轴上,待测管件水平的放置于检测台上,调整探头的位置,使之位于管件的正上方,控制Z轴带着探头和探头保护装置向下移动,使之与管件接触,利用超声波测出管件的壁厚,在Z轴带着探头向下移动的过程中,若探头与管件接触后,Z轴仍然向下移动,探头随管件产生压力,探头在管件的反向作用力的作用下,通过第一工作台面和第二工作台面的滑动连接,实现向上运动。实现探头对管件的自动稳定接触,使得测量结果更加的准确可靠,同时避免探头与管件的刚性接触,保护探头免受损伤,延长了探头的使用寿命。
除了上面所描述的本实用新型解决的技术问题、构成的技术方案的技术特征以及有这些技术方案的技术特征所带来的优点之外,本实用新型的其他技术特征及这些技术特征带来的优点,将结合附图作出进一步说明。
附图说明
图1是本实用新型实施例提供的一种用于超声波自动测厚的探头保护装置的结构示意图;
图2是本实用新型实施例提供的第一工作台面和第二工作台面的结构示意图;
图3是本实用新型实施例提供的第一工作台面与第二工作台面的配合图;
图4是本实用新型实施例提供的固定板的结构示意图;
图5是本实用新型实施例提供的压帽的结构示意图。
图中:1:第一工作台面;2:第二工作台面;3:固定板;4:压帽;5:探头;6:弹簧;101:第一滑槽;102:滑杆;201:第一滑块;202:第二滑槽;203:连接杆;301:第一卡槽;401:第二卡槽。
具体实施方式
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院,未经北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
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