[实用新型]一种天平加载头位姿检测设备

权利要求书

1.一种天平加载头位姿检测设备，其特征在于，所述设备包括：

指示光源、位置探测结构，所述指示光源安装在待检测天平加载头上表面， 所述位置探测结构包括：指示光斑照射靶面、光学成像系统、位置探测器，所述指示光斑照射靶面开设有中心孔，所述位置探测器的端面设有开口，所述开口中心线与所述中心孔中心线重合，所述位置探测器固定在所述指示光斑照射靶面的背面，所述光学成像系统位于所述指示光斑照射靶面的正面前方。

2.根据权利要求1所述的天平加载头位姿检测设备，其特征在于，所述光学成像系统包括：CCD相机和镜头。

3.根据权利要求1所述的天平加载头位姿检测设备，其特征在于，所述位置探测结构固定在安装支架上。

4.根据权利要求1所述的天平加载头位姿检测设备，其特征在于，所述设备具体包括4个位置探测结构，所述4个位置探测结构均匀分布在待检测天平加载头四周。

5.根据权利要求1所述的天平加载头位姿检测设备，其特征在于，所述设备还包括连接支架，所述连接支架一端与所述光学成像系统连接，所述连接支架另一端与所述位置探测器连接。

6.根据权利要求1所述的天平加载头位姿检测设备，其特征在于，所述位置探测器具体包括：外壳、光电探测器、光电探测器安装板、信号处理器，所述光电探测器、所述光电探测器安装板、所述信号处理器均安装在外壳内，所述光电探测器芯片安装在光电探测器安装板上，所述光电探测器与所述信号处理器连接，所述光电探测器中心线与所述开口中心线重合。

7.根据权利要求6所述的天平加载头位姿检测设备，其特征在于，所述光电探测器的测量面积大于中心孔的面积。

8.根据权利要求6所述的天平加载头位姿检测设备，其特征在于，所述光电探测器包括：面阵CCD、二维PSD。

9.根据权利要求6所述的天平加载头位姿检测设备，其特征在于，所述光电探测器安装板通过紧固螺钉固定在外壳上。