[实用新型]一种指纹芯片测试插座有效
申请号: | 201621155955.5 | 申请日: | 2016-10-31 |
公开(公告)号: | CN206270369U | 公开(公告)日: | 2017-06-20 |
发明(设计)人: | 孙文涛 | 申请(专利权)人: | 广东利扬芯片测试股份有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R1/073 |
代理公司: | 东莞市华南专利商标事务所有限公司44215 | 代理人: | 刘克宽 |
地址: | 523000 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 指纹 芯片 测试 插座 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种指纹芯片测试插座。
背景技术
随着科学技术的发展,指纹芯片已经广泛应用在手机和电脑等电子产品。在完成指纹芯片大批量生产后,需要对指纹芯片的合格性进行检测,以此来挑选出不合格的指纹芯片,从而保留合格的指纹芯片。然而,由于指纹芯片属于高精密产品,因此,在对其进行检测的时候,需要将测试探针准确对准指纹芯片上的引脚来进行测试。但是,因为传统的指纹芯片的引脚排布位置如图1所示,引脚有四排,每排的引脚都是在直线上排布,所以传统的测试插座上的测试探针也是如此排布,但是对于一些最新的指纹芯片,其引脚并不是在一直线上排布,而是在一直线上交错排布的,因此,传统的测试插座无法对这类指纹芯片进行准确的测试。
发明内容
本实用新型的目的是提供一种指纹芯片测试插座,其能够对引脚在一直线上交错排布的指纹芯片进行精准测试。
本实用新型提供一种,插座主体的顶面开设有凹槽,凹槽内设置有用于对待测芯片进行周向定位的定位块,插座主体设置有探针安装孔,探针安装孔正对位于定位块中的待测芯片,探针安装孔在直线方向上交错排布,在插座主体的底面设置有插座底板,测试探针一端连接插座底板,另一端从探针安装孔中穿出。
其中,定位块设有用于容置待测芯片的容置腔,容置腔与探针安装孔正对。
其中,还包括用于使待测芯片的引脚抵紧测试探针的下压装置。
其中,还包括盖在插座主体上的测试盖,下压装置安装于测试盖。
其中,测试盖的一侧与插座主体的一侧转动连接,测试盖的另一次设置有与插座主体配合的卡扣。
其中,所述下压装置包括旋转把手和丝杆,丝杆一端连接旋转把手,另一端贯穿测试盖
其中,插座底板通过固定件固定在插座主体。
有益效果:本实用新型一种指纹芯片测试插座,插座主体设置有探针安装孔,探针安装孔在直线方向上交错排布,测试探针从探针安装孔中穿出,因此,测试探针可以精确地对准指纹芯片在直线上交错排布的引脚,从而进行精准测试。
附图说明
利用附图对本发明作进一步说明,但附图中的实施例不构成对本发明的任何限制,对于本领域的普通技术人员,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据以下附图获得其它的附图。
图1是现有的指纹芯片的引脚排布图。
图2是本实用新型一种指纹芯片测试插座的插座主体和插座底板的结构示意图。
图3是本实用新型一种指纹芯片测试插座的结构示意图。
图4是本实用新型一种指纹芯片测试插座的探针安装孔的排布图。
在图2和图3中包括:1——插座主体,2——凹槽,3——定位块,4——探针安装孔,5——测试探针,6——插座底板,7——测试盖,8——卡扣,9——旋转把手,10——丝杆,11——固定件。
具体实施方式
结合以下实施例对本发明作进一步描述。
本实施例一种指纹芯片测试插座的结构示意图如图3所示,插座主体1的顶面左侧转动连接测试盖7,测试盖7与插座主体1的顶面相匹配,测试盖7设置有与插座主体1配合的卡扣8,好处是在插座主体1与测试盖7闭合状态时,测试盖7能够紧扣插座主体1。丝杆10一端连接旋转把手9,另一端贯穿测试盖7,在测试时,旋转旋转把手以推动丝杆下压从而使待测芯片抵紧插座主体1。
如图2所示,插座主体1的顶面开设有凹槽2,凹槽2内设置有用于对待测芯片进行周向定位的定位块3,定位块3设有用于容置待测芯片的容置腔。插座主体1设置有探针安装孔4,容置腔与探针安装孔4正对,在图4中右侧的探针安装孔4在直线方向上交错排布,在插座主体1的底面设置有插座底板6,测试探针5一端连接插座底板,另一端从探针安装孔4中穿出,因此,测试探针5可以精确地对准指纹芯片在直线上交错排布的引脚,从而进行精准测试。插座底板6通过固定件11固定在插座主体1。
工作过程:把待测芯片放置至定位块中的容置腔中,闭合插座主体1与测试盖7并用卡扣8卡紧插座主体1,旋转旋转把手9以推动丝杆10下压从而使待测芯片抵紧测试探针5以防止待测芯片和测试探针接触不良,从而使待测芯片的每个引脚都对准测试探针5以提高测试精度。
最后应当说明的是,以上实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对本发明保护范围的限制,尽管参照较佳实施例对本发明作了详细地说明,本领域的普通技术人员应当理解,可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换,而不脱离本发明技术方案的实质和范围。
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