[实用新型]新型综合验光试戴架

说明书

【技术领域】

本实用新型涉及一种验光设备，更确切地说是一种头戴多功能综合验光架。

【背景技术】

目前市场上的综合验光设备存在以下问题：价格高昂，成本高，每套在几万至几十万元不等；结构复杂，体积大，导致其移动困难，使用地点受限；转轮系统存在光学缺陷，在矫正高度屈光不正时，验光误差大，影响验光参数可靠性，进而诱发近感知调节，严重影响检查结果的准确性。

【实用新型内容】

针对上述技术问题，本实用新型提供了一种新型综合验光试戴架。

一种新型综合验光试戴架，包括：头戴架、屈光度测量装置、散光测量装置和双眼平衡检测装置，其特征在于：所述的屈光度测量装置位于头戴架的内部，在头戴架上设有旋转装置，所述屈光度测量装置、散光装置和双眼平衡检测装置可以在头戴架上自由转动。

提供一种综合验光试戴架，所述的屈光度测量装置包括近视屈光 度测量装置和远视屈光度测量装置，远视屈光度测量装置位于近视屈光度测量装置的外侧。

提供一种综合验光试戴架，所述头戴架的下部于头部接触部设有垫体。

提供一种综合验光试戴架，进一步包括遮盖装置，所述的遮盖装置位于选装装置上，所述的遮盖装置位于近视屈光度测量装置和远视屈光度测量装置上。

提供一种综合验光试戴架，进一步包括视孔装置，所述的视孔装置位于选装装置上，所述的旋转装置位于近视屈光度测量装置和远视屈光度测量装置上。

本实用新型技术方案：不仅可用于验光，还可用于斜弱视、立体视、双眼视及调节滞后和调节超前等功能检查，也可用于斜视、弱视训练与屈光矫正后的试戴。

【附图说明】

图1是本实用新型综合验光试戴架结构示意图；

图2是本实用新型综合验光试戴架头戴架结构示意图；

图3是本实用新型综合验光试戴架旋转装置结构示意图。

【具体实施方式】

下面结合图1-3对本实用新型技术方案进行详细介绍。

一种新型综合验光试戴架，包括：头戴架10、屈光度测量装置20、 散光测量装置30和双眼平衡检测装置40，屈光度测量装置20固定在头戴架10的内部，在头戴架上设有旋转装置50，所述屈光度测量装置、散光装置和双眼平衡检测装置可以在头戴架上自由转动。

所述头戴架的下部于头部接触部设有垫体11。

所述的屈光度测量装置包括近视屈光度测量装置21和远视屈光度测量装置22，远视屈光度测量装置22位于近视屈光度测量装置21的外侧。

所述散光测量装置用于检查散光，精调散光的轴与度。

所述双眼平衡检测装置用于测量双眼平衡与调节平衡。

所述近视屈光度的测量装置：以0.25D做为梯度进行屈光度的转换，检测近视度数。

所述远视屈光度的测量装置：以0.25D做为梯度进行屈光度的转换，检测远视度数。

所述头戴架用于固定综合验光训练架在验光者头戴的位置。

所述视孔装置采用平光片，用于单眼检测屈光不正而设置的窗口。

所述遮盖装置用于单眼检测时遮盖另一只不测眼。

所述转换装置可以360°自由旋转，根据验光需要，任意调整屈光度。

本实用新型技术方案：不仅可用于验光，还可用于斜弱视、立体视、双眼视及调节滞后和调节超前等功能检查，也可用于斜视、弱视训练与屈光矫正后的试戴。

以上实施例为本实用新型的优选实施例，本实用新型不限于上述实施例，对于本领域普通技术人员而言，在不背离本实用新型技术原理的基础上所做的任何显而易见的改动，都属于本实用新型的构思和所附权利要求的保护范围。