[实用新型]一种整车控制器VCU的HIL测试系统有效
申请号: | 201621167919.0 | 申请日: | 2016-11-01 |
公开(公告)号: | CN206224231U | 公开(公告)日: | 2017-06-06 |
发明(设计)人: | 艾名升 | 申请(专利权)人: | 宝沃汽车(中国)有限公司 |
主分类号: | G05B23/02 | 分类号: | G05B23/02 |
代理公司: | 北京信远达知识产权代理事务所(普通合伙)11304 | 代理人: | 魏晓波 |
地址: | 100102 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 整车 控制器 vcu hil 测试 系统 | ||
技术领域
本实用新型涉及车辆工程技术领域,特别涉及一种整车控制器VCU的HIL测试系统。
背景技术
HIL(hardware-in-the-loop,硬件在环)测试系统是整车控制器测试中的一种测试方法。传统的整车控制系器VCU的HIL测试系统有以下特点(如图1所示):一般主要由1个被测整车控制系器VCU也可以称之为被测VCU、HIL设备(内部含硬件接口+单一运行模型)、标定设备、监控设备四大部分组成;HIL设备中由硬件接口、运行模型(对应被测VCU的测试环境模型,包括驾驶员模型、道路模型、电池模型、电机模型等)组成;四大部分组成闭环对VCU进行测试。
但是这种传统的整车控制系器HIL测试系统存在以下问题:第一,如果更改被测VCU,例如将VCU1换为VCU2,则驾驶员模型、道路模型、电池模型、电机模型等环境测试模型即运行模型都需要进行修改;即无法同步对多个整车控制器同时测试,在多个项目同时需要进行HIL测试时影响测试进度;第二,由于每次只能对一个VCU进行测试,因此无法进行VCU1和其他VCU(VCU2、VCU3、…)测试结果的对比;第三,对同一个VCU一次只能进行一种运行模型下的HIL测试,无法快速切换VCU在不同的运行模型下的测试。因此,如何提高整车控制器HIL测试系统测试效率,是本领域技术人员需要解决的技术问题。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种整车控制器VCU的HIL测试系统,该HIL测试系统能够快速同步的对多个项目的整车控制器VCU进行HIL测试,加快多个项目整车控制器VCU的HIL测试进度,提高测试效率。
为解决上述技术问题,本实用新型提供一种整车控制器VCU的HIL测试系统,包括监控设备,与所述监控设备相连的标定设备,与所述标定设备相连的被测整车控制器VCU,还包括HIL设备;所述被测整车控制器VCU个数至少为两个;
所述HIL设备包括预定个数的硬件接口和与各所述被测整车控制器VCU对应的运行模型;各所述被测整车控制器VCU分别与一个所述硬件接口连接。
可选的,所述监控设备还包括接收各所述被测整车控制器VCU的测试标定数据的存储器。
可选的,所述HIL设备还包括与硬件接口相连,扩展所述硬件接口个数的备用硬件接口扩展接口。
可选的,该整车控制器VCU的HIL测试系统还包括:
与所述监控设备相连,接收各所述被测整车控制器VCU的测试标定数据,并进行数据分析的数据对比分析设备。
可选的,该整车控制器VCU的HIL测试系统还包括:
与所述数据对比分析设备相连,输出数据对比分析结果的输出设备。
可选的,所述输出设备具体为显示器。
可选的,所述输出设备具体为显示器和打印机。
本实用新型所提供的一种整车控制器VCU的HIL测试系统,包括监控设备,与所述监控设备相连的标定设备,与所述标定设备相连的被测整车控制器VCU,还包括HIL设备;所述被测整车控制器VCU个数至少为两个;所述HIL设备包括预定个数的硬件接口和与各所述被测整车控制器VCU对应的运行模块;各所述被测整车控制器VCU分别与一个所述硬件接口连接;
可见,该整车控制器VCU的HIL测试系统通过在HIL设备上设置多个硬件接口同时与多个被测整车控制器VCU相连,且HIL设备内部配置了多个与各个被测整车控制器VCU相对应的运行模型,可以同时对多个被测整车控制器VCU进行测试;即能够快速同步的对多个项目的整车控制器VCU进行HIL测试,加快多个项目整车控制器VCU的HIL测试进度,提高测试效率。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为现有技术中整车控制器VCU的HIL测试系统的结构框图;
图2为本发明实施例提供的整车控制器VCU的HIL测试系统的结构框图;
图3为本发明实施例提供的另一整车控制器VCU的HIL测试系统的结构框图;
图4为本发明实施例提供的又一整车控制器VCU的HIL测试系统的结构框图。
具体实施方式
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