[实用新型]雷达罩测试系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种雷达罩测试转台装置。

背景技术

在雷达周边设备中，雷达罩是电磁波的窗口，是对雷达性能影响最为直接的，雷达罩电磁性能的好坏直接关系到雷达系统实际性能的发挥，雷达罩与天线同等重要。要求雷达罩对天线的电磁辐射特性的影响最小，并且满足战术技术指标的要求。

雷达罩技术综合了材料、工艺、机械、电磁、空气动力学和结构力学等学科的知识，设计和制造难度较大，尤其电磁性能测试过程最为复杂，一般采用多自由度测试系统在远场或者紧缩场环境下进行测试，具体电磁性能指标包括透波率、方向图、瞄准误差等。

由于雷达罩工作在一种复杂的特殊环境中，雷达罩电性能测试是一个复杂的过程，包括方向图、透波率、瞄准误差等技术指标，涉及到空间多轴、多自由度的运动，一般使用专用的转台进行测试，其转台应满足雷达罩测试的运动要求。

雷达罩测试转台通常会设置有一个竖立的雷达罩支撑臂结构，用以支撑雷达罩的俯仰运动轴，同时还设置有独立的雷达天线支撑臂，用以安装雷达天线系统，两部分配合运动以满足雷达罩测试运动要求。

一般来说，在天线测试中天线的左右两侧是干扰敏感区域，如图6所示，图中传统雷达罩安装框F两侧的圆虚线区域即为干扰敏感区域。

如图7和图8所示，图中传统雷达罩安装框F两侧的圆虚线区域即为干扰敏感区域，现有的雷达罩测试系统中，在扫描水平面上，其竖立的传统雷达罩支撑臂及其俯仰轴结构C，正好处于这个敏感区域内，甚至在一定角度范围内从电磁波来波方向来看，传统雷达罩支撑臂或者俯仰轴结构超前于天线罩，并且结构尺寸可观、过于靠近天线罩，不论是在室外远场，或者是经过屏蔽处理后在室内暗室测试，其测试得到的方向图会因为雷达罩支撑臂对电磁波反射以及散射的干扰，导致方向图对应在雷达罩支撑臂所在区域范围内出现副瓣抬高的现象。

在带有雷达罩支撑臂结构的雷达罩测试系统中，雷达罩支撑臂在雷达罩体的右侧，右边副瓣会有明显抬升，左右副瓣不对称，测试结果失真。

同时，由于缺乏雷达罩独立的方位调节运动，当雷达指向雷达罩的斜角区域时，现有测试系统的测试扫描平面A和雷达H面B并不重合。

发明内容

根据上述提出的技术问题，而提供一种雷达罩测试系统，用于解决现有的雷达罩测试系统，具有的雷达罩支撑臂会干扰到雷达罩的测试效果，并且达不到测试扫描平面和雷达H面重合的缺点。本实用新型采用的技术手段如下：

一种雷达罩测试系统，包括设置于水平工作面的扫描方位转台，所述的扫描方位转台上通过支撑臂连接有雷达扫描机构；所述的支撑臂包括转台支撑臂和雷达支撑臂；所述的转台支撑臂设置于扫描方位转台上部，所述的转台支撑臂上表面具有俯仰圆弧轨道，所述的俯仰圆弧轨道同雷达支撑臂底部的俯仰滑动台滑动配合，使雷达支撑臂能够相对转台支撑臂圆弧曲面移动；在雷达测试过程中，雷达支撑臂位于雷达罩安装框和机扫雷达天线的后部，雷达天线的左右两侧的干扰敏感区域都是净空，无遮挡物。

作为优选所述的雷达扫描机构设置于雷达支撑臂顶部的雷达支撑架上；所述的雷达扫描机构包括：通过雷达罩方位轴同雷达支撑架的上下两端转动连接的雷达罩安装框、雷达罩、机扫雷达天线、雷达罩极化轴、雷达罩横滚转动环和雷达天线安装台；所述的雷达罩安装框中心设置有雷达天线安装台，所述的机扫雷达天线安装于雷达天线安装台上；所述的雷达罩安装框的圆周框体上安装有雷达罩横滚转动环，所述的雷达罩安装于雷达罩横滚转动环。

作为优选所述的雷达罩方位轴同雷达罩安装框之间设置有直线导轨，使雷达罩安装框能够在直线导轨上前后伸缩平移运动。

作为优选所述的雷达天线安装台同雷达罩安装框之间设置有直线导轨，使雷达天线安装台能够在直线导轨上前后伸缩平移运动。

作为优选所述的俯仰圆弧轨道以及同其配合滑动的俯仰滑动台设有一组以上。

与现有技术相比较，本实用新型所述的雷达罩测试系统，支撑臂包括转台支撑臂和雷达支撑臂；转台支撑臂上表面具有俯仰圆弧轨道，俯仰圆弧轨道同雷达支撑臂底部的俯仰滑动台滑动配合，使雷达支撑臂能够相对转台支撑臂圆弧曲面移动；当雷达扫描机构扫描工作时，扫描平面高于转台支撑臂的顶部，且雷达支撑臂始终位于雷达罩安装框和机扫雷达天线的后部，雷达天线的左右两侧都是净空，干扰敏感区域无遮挡物，避免了传统雷达罩支撑臂以及俯仰轴对雷达罩测试效果的干扰影响，并且通过雷达罩方位轴同雷达支撑架的上下两端转动连接的雷达罩安装框，实现了雷达罩的方位调节，实现了扫描平面和雷达天线H平面的重合。