[实用新型]一种陶瓷样品的抛光及光泽度检测系统有效

专利信息
申请号: 201621172131.9 申请日: 2016-10-26
公开(公告)号: CN206132612U 公开(公告)日: 2017-04-26
发明(设计)人: 张引;孙计赞;刘胜;朱凌 申请(专利权)人: 张引
主分类号: G01N21/57 分类号: G01N21/57;B24B29/02
代理公司: 淄博佳和专利代理事务所37223 代理人: 孙爱华
地址: 255035 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 陶瓷 样品 抛光 光泽 检测 系统
【说明书】:

技术领域

一种陶瓷样品的抛光及光泽度检测系统,属于陶瓷光泽度检测技术领域。

背景技术

陶瓷的光泽度是判定陶瓷品质的重要数据之一,一般情况下,往往需要在对陶瓷进行抛光之后然后对陶瓷的光泽度进行测定。但是在现有技术中,陶瓷的抛光和测定是分开进行的,因此操作的步骤较为繁琐,在一定程度上造成了检测的不便,并且在现有技术中,抛光和光泽度的测定均是由人工完成的,因此自动化程度较低且工作效率较低。

发明内容

本实用新型要解决的技术问题是:克服现有技术的不足,提供一种通过传送带,将陶瓷样品依次送入抛光单元进行抛光以及光泽度检测单元进行光泽度的测试,大大提高了工作效率以及自动化程度的陶瓷样品的抛光及光泽度检测系统。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:该陶瓷样品的抛光及光泽度检测系统,其特征在于:包括机架,在机架表面铺设有用于放置和运送陶瓷样品的传送带,在机架上还设置有对陶瓷样品进行抛光的抛光单元以及对陶瓷样品进行光泽度测试的光泽度检测单元,传送带依次连接抛光单元以及光泽度检测单元,传送带、抛光单元以及光泽度检测单元的工作状态由控制单元进行控制。

优选的,在所述的抛光单元内设置有电机固定框,电机竖直向下固定在电机固定框内,电机的输出轴穿过电机固定框的底框后连接抛光盘;电机固定框通过高度可调的连接架固定在抛光单元壳体的顶部。

优选的,在所述的连接架中,矩形的固定框固定在抛光单元外壳的顶部,在固定框的两侧与抛光单元之间分别设置有一条加强板,连接螺栓上端向上穿过固定框的底面以及设置在固定框内的缓冲弹簧之后通过旋转套装在其上部的调节螺母实现固定,连接螺栓下端连接所述的电机固定框。

优选的,所述的连接架设置有两个,在两个连接架之间设置有气缸,气缸的本体固定在抛光单元外壳内表面的顶部,其输出端竖直向下并连接电机固定框。

优选的,在所述的光泽度检测单元中设置有直线电机,直线电机的本体固定在光泽度检测单元外壳内表面的顶部,其输出端竖直向下并固定有光泽度仪固定框,光泽度仪固定架上端与光泽度仪固定框配合安装,其下端固定光泽度仪,其光泽度仪的测试口竖直向下。

优选的,所述的光泽度仪固定框为“日”型状,包括上方的控制室和下方的触发室,在控制室的上部设置有行程开关,在触发室内设置有触发弹簧,光泽度仪固定架上端向上依次穿过触发室以及其内的触发弹簧之后进入控制室内,并可将行程开关触发,其下端固定所述的光泽度仪。

优选的,所述的光泽度仪固定架上端为圆柱体的导向杆,其下部设置有用于固定光泽度仪的夹具,在导向杆上凸出设置有圆盘形的挡盘,导向杆向上穿过触发室并进入控制室后,挡盘位于触发室内,并位于触发弹簧下部。

优选的,在所述的机架上还设置有传送带同时穿过的喷淋烘干单元,喷淋烘干单元位于抛光单元以及光泽度检测单元之间,喷淋烘干单元的工作状态由控制单元进行控制。

优选的,所述的喷淋烘干单元内部由隔断间隔分成清洗室和烘干室,在清洗室内设置有喷淋管,喷淋管的出口朝向正下方且在喷淋管的出口处设置有喷头,喷淋管的入口处通过管路连接外部水管;在烘干室内设置有烘干器,烘干器的出风口竖直向下。

与现有技术相比,本实用新型所具有的有益效果是:

1、通过本陶瓷样品的抛光及光泽度检测系统,通过传送带,将陶瓷样品依次送入抛光单元进行抛光以及光泽度检测单元进行光泽度的测试,大大提高了工作效率以及自动化程度。

2、通过设置连接架,在完成抛光之后,起到了辅助气缸的输出轴回位的作用。同时通过调节调节螺母实现了对电机固定框初始高度的调节。

3、电机采用变频电机实现,由下位机通过变频器对电机的转速进行控制,实现了不同转速下的抛光。

4、通过设置喷淋烘干单元,可在对陶瓷抛光之后自动进行清洗和烘干,避免了抛光灰尘对光泽度检测时的影响。

5、通过设置触发弹簧,在光泽度仪接触到陶瓷样品之后,起到一定的缓冲作用,并通过挡盘对光泽度仪固定架形成一定的压力,使得光泽度仪与陶瓷样品紧密接触,通过设置行程开关,在保证光泽度仪与陶瓷样品紧密接触的前提下,避免光泽度仪继续压紧陶瓷样品,防止光泽度仪的损坏。

附图说明

图1为陶瓷样品的抛光及光泽度检测系统结构示意图。

图2为陶瓷样品的抛光及光泽度检测系统抛光单元结构示意图。

图3为陶瓷样品的抛光及光泽度检测系统抛光单元结构示意图。

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