[实用新型]一种电子元器件集群老化测试装置

说明书

技术领域

本实用新型属于电子器件检测技术领域，更具体地，涉及一种电子元器件集群老化测试装置。

背景技术

市场上有各式各样的电子元器件老化测试设备，大多是固定式单一或少量集成组模块测试，作业时取出、安装很不方便，这对作业人提出更高要求，有些更是要求在安装时对应相应的接口，稍一出错，不是达不到要求、就是损坏元器件，还有的集成组不高，无法一次测试一个或多个元器件，即使有集成组件的，在一个板幅上必须加载全部才能测试，这样大大的增加了测试成本，也带来了诸多不便。

实用新型内容

针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本实用新型提供了一种电子元器件集群老化测试装置，其使得元器件在测试时更加方便和经济。

为实现上述目的，按照本实用新型，提供了一种电子元器件集群老化测试装置，其特征在于，包括支撑板组、电路板组和老化板组，其中，

所述支撑板组包括支撑板和多根相互平行的隔条，每根所述隔条均固定安装在所述支撑板的顶端面上；

所述电路板组包括连接器固定板、连接器和电路板，所述连接器固定板与所述支撑板固定连接并且所述连接器固定板上固定安装所述连接器，所述连接器与电路板固定连接；

所述老化板组用于连接待测元器件，其包括托板固定板、老化板托板和金手指，所述托板固定板放置在所述支撑板上并且其位于相邻的两根所述隔条之间，而且相邻的这两根所述隔条分别与所述托板固定板抵接，以用于对所述托板固定板的移动进行导向，所述老化板托板与托板固定板固定连接，所述金手指固定安装在所述老化板托板上并且其插入所述连接器内。

优选地，所述托板固定板的长度大于每根所述隔条的长度，从而使托板固定板的一端超出所述隔条，以便于推动和拉动所述托板固定板。

优选地，所述老化板组设置有多组，并且每组所述老化板组分别位于相邻的两隔条之间。

优选地，所述隔条通过螺丝连接在所述支撑板上。

优选地，所述老化板托板通过螺丝连接在所述托板固定板上。

优选地，所述托板固定板上设置有压铆螺母，所述螺丝连接在所述压铆螺母上，并且所述压铆螺母的顶端面高出所述托板固定板的顶端面，以防止托板固定板与老化板托板接触面积大而造成短路。

优选地，所述连接器通过螺丝连接在所述连接器固定板上。

优选地，所述隔条远离所述连接器的一端设置有卡槽，所述托板固定板远离所述连接器的一端设置有与所述卡槽配合的卡台。

优选地，所述托板固定板远离所述连接器的一端设置有通孔，以便于推动和拉动所述托板固定板。

优选地，所述连接器与电路板固定焊接在一起。

总体而言，通过本实用新型所构思的以上技术方案与现有技术相比，能够取得下列有益效果：

1)当需要将老化板组与电路板组连接时，可将老化板托架固定板放入支撑板组的两隔条形成的定位槽内，沿着隔条往电路板组方向平行移动，老化板托板前端的金手指完全插入连接器，连接非常方便和快速；分离时，只需沿着隔条的纵向、远离电路板方向平行移动老化板组，从而可以很轻松的将老化板组与电路板组完全分离，拆卸也比较方便；

2)托板固定板后端的卡台进入隔条的卡槽内，可以防止因操作不当或变形过大、造成老化板托板折断；

3)本实用新型引入金手指结构，金手指可以和连接器电气快速插接，能同时完成电子及信号特性的连接。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图；

图2是本实用新型中其中一组老化板组拉出时的结构示意图；

图3是本实用新型中老化板组的结构示意图。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。此外，下面所描述的本实用新型各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。

参照图1～图3，一种电子元器件集群老化测试装置，包括支撑板组1、电路板组2和老化板组3，其中，

所述支撑板组1包括支撑板11和多根相互平行的隔条12，每根所述隔条12均固定安装在所述支撑板11的顶端面上；相邻两根隔条12之间形成相对的空间，可以使老化板组3在此空间内快速、有效的运动。