[实用新型]一种电缆金属屏蔽层和导体电阻比测试系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及电缆性能检测技术领域，具体涉及一种电缆金属屏蔽层和导体电阻比测试系统。

背景技术

随着我国城市电网的逐步发展，电力电缆的应用越来越广泛。电缆的结构包括三相电缆芯，即三相导体，三相导体外部设有绝缘层和保护层，以及采用金属材料制成的屏蔽层。

在制作电缆施工或运行中电缆受外力及化学腐蚀等原因，可能导致电缆的金属屏蔽层不连续或受损，甚至出现某一相或三相整段无金属屏蔽层或金属屏蔽层受损的现象；还有电气安装单位在做接头时，接头两端的金属屏蔽层接触不良或电缆接头处导体接触不良等，从而导致电缆屏蔽层这些异常点处的电阻增大，在电缆运行的过程中，这些异常点的端电位便会增大，导致出现局部放电的现象，甚至会造成电缆故障。因此，为了防止出现上述问题，需要测试电缆金属屏蔽层和导体的电阻比，同时测量金属屏蔽层电阻和导体电阻比也为以后的预防性试验提供参考值，作为电缆是否受损的依据。

目前对电缆金属屏蔽层与导体的电阻比进行测试时，其测试装置如图1所示，采用短接导线将待测电缆1的第一相导体后端、金属屏蔽层后端分别与第二相导体后端进行短接，然后对第一相导体的前端施加电压，分别测试出金属屏蔽层前端与第二相导体前端之间的电压U1，以及第一相导体与第二相导体之间的电压U2，U1即为金属屏蔽层两端的电压，U2即为第一相导体两端的电压；由于第一相导体与金属屏蔽层串联，所以电压U1与U2之比即为待测电缆属屏蔽层与导体的电阻比。

采用这种测试装置进行测试时，采用第二相导体作为测试电压时的测试线，减少了测试的难度，方便操作。但是在测试时，由于第一相导体后端与第二相导体后端之间的短接导线自身存在电阻，所以上述测得的电压值U2比第一相导体实际的电压值之间存在偏差，同样由于第二相导体后端与金属屏蔽层后端的短接线其自身存在电阻，所以U1比金属屏蔽层实际的电压值之间也存在偏差，因此采用电压U1和U2所求得的待测电缆属屏蔽层与导体的电阻比与待测电缆属屏蔽层与导体实际的电阻比之间存在较大的偏差。由此可见，这种测试装置的精确度较低，所测得的待测电缆属屏蔽层与导体的电阻比存在的误差较大。

实用新型内容

本实用新型提供一种电缆金属屏蔽层和导体电阻比测试系统，用于解决上述测试现有的测试装置在对电缆属屏蔽层与导体的电阻比进行测试时误差较大的问题。

一种电缆金属屏蔽层和导体电阻比测试系统，包括一个电源和一个短接装置；所述电源连接一对用于提供测试电流的电流端子，这一对电流端子分别用于连接待测电缆的第一相导体前端和金属屏蔽层前端；所述短接装置用于将第一相导体后端与金属屏蔽层后端短接，第二相导体后端与第一相导体后端短接，金属屏蔽层后端与第三相导体后端短接；所述测试系统还包括电压检测单元，用于检测第一相导体前端和第二相导体前端之间的电压，以及第三相导体前端与金属屏蔽层前端之间的电压。

本实用新型所提供的一种电缆金属屏蔽层和导体电阻比测试系统，采用短接装置将第一相导体后端与金属屏蔽层后端进行短接后，再将第二相导体后端与第一相导体后端、第三相导体后端与金属屏蔽层后端分别单独进行短接，此时电压检测单元能够消除短接线及接触面电阻的影响，进而测出第一相导体和金属屏蔽层实际的电压值，因此能够减少对电缆属屏蔽层与导体电阻比进行测试时误差较大的问题。

进一步的，所述电压检测单元连接有第一电压检测端口、第二电压检测端口、第三电压检测端口和第四电压检测端口，分别用于连接待测电缆的第一相导体前端、第二相导体前端、第三相导体前端和金属屏蔽层前端；电压检测单元用于检测第一电压检测端口和第二电压检测端口之间的电压，以及第三电压检测端口和第四电压检测端口之间的电压。

设置四个电压检测端口即能满足对电缆金属屏蔽层和导体电阻比测试的需求，方便用户操作。

进一步的，所述第一电压检测端口、第四电压检测端口与所述一对电流端子分别短接或者共用。

将测试端和输出端进行合并，能够减少检测装置端口的数量，从而进一步降低测试电缆金属屏蔽层与导体电阻比时的操作难度。

进一步的，所述一对电流端子、第一电压检测端口、第二电压检测端口、第三电压检测端口和第四电压检测端口均设有相应的标识。

进一步的，所述短接装置设有用于连接待测电缆各相导体后端和金属屏蔽层后端的端口，并且所述各端口均设有相应的标识。

在电流端子、电压检测端口和短接装置的端口设置相应的标识，能够防止用户在接线时出现错误。

进一步的，所述测试系统还包括与电源串联的、用于稳定电源输出电流的稳流装置。