[实用新型]一种试件温度控制装置有效
申请号: | 201621198224.9 | 申请日: | 2016-11-04 |
公开(公告)号: | CN206249115U | 公开(公告)日: | 2017-06-13 |
发明(设计)人: | 殷秀玲 | 申请(专利权)人: | 北京优锐特科技有限公司 |
主分类号: | G05D23/20 | 分类号: | G05D23/20 |
代理公司: | 北京德高行远知识产权代理有限公司11549 | 代理人: | 樊妤玲,王健鹏 |
地址: | 102206 北京市昌平区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 温度 控制 装置 | ||
1.一种试件温度控制装置,其特征在于包含控制模块、PLC模块、PID调节器、显示模块、触摸模块、温度传感器、通信模块,所述控制模块连接所述PLC模块和所述触摸模块,所述PID调节器连接所述PLC模块和所述温度传感器,所述显示模块连接所述触摸模块和所述温度传感器,外部试件各个控制点的温度及介质温度通过所述温度传感器将温度信息发送到所述PID调节器和所述显示模块,所述显示模块用于显示该装置温控过程中的各个控制点控制参数、实时参数、指令菜单,所述触摸模块便于管理端人员进行触摸操作,所述通信模块实现所述试件温度控制装置各个组成模块之间以及外部试件与所述试件温度控制装置之间的通信,所述控制模块根据所述温度传感器收集的温度信息对各个组成子模块之间进行协调控制,调控所述PID调节器调节温度参数,实现对试件温度进行控制。
2.根据权利要求1所述的试件温度控制装置,其特征在于,所述温度传感器包含介质温度传感器和试件温度传感器,所述介质温度传感器用来感应所述试件所在环境中的介质的温度,所述试件温度传感器用来感应所述试件各个控制点的温度。
3.根据权利要求2所述的试件温度控制装置,其特征在于,所述PID调节器包含两路PID调节器和一路自适应PID调节器,外环为自适应PID调节器和主PID调节器,内环为副PID调节器。
4.根据权利要求3所述的试件温度控制装置,其特征在于,所述自适应PID调节器根据设定温度和试件温度的偏差依据偏差的变化,调用内部自适应规则表,得到PID参数调节系数,计算出合适的PID控制参数。
5.根据权利要求3所述的试件温度控制装置,其特征在于,所述主PID调节器根据设定温度和试件温度的偏差计算外环PID输出,根据此输出计算结果得到需要的介质温度设定值。
6.根据权利要求3所述的试件温度控制装置,其特征在于,所述副PID调节器,根据介质温度设定值和实际介质温度的偏差计算内环PID输出,根据此计算结果控制加热量或制冷量,通过调节介质温度,对试件温度进行精确控制。
7.根据权利要求1-6中任一项权利要求所述的试件温度控制装置,其特征在于,所述PID调节器根据介质温度、设定温度参数自动控制试件温度控制各阶段所需的加热量和制冷量,确保试件温度自动控制在要求的温度范围内。
8.根据权利要求7中任一项权利要求所述的试件温度控制装置,其特征在于,所述PID调节器在整个温控周期内实现对试件温度进行自动控制。
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