[实用新型]一种用于无损检测成像的防撞保护系统

说明书

技术领域

本实用新型属于检测设备技术领域，尤其是一种用于无损检测成像的防撞保护系统。

背景技术

在无损检测过程中，为了追求更高的成像效果或者对特定区域的成像，通常需要移动射线源、样品及探测器三者之间的距离，大都需要通过调整射线源或者探测器与待测样品的距离进行调整。但是，由于样品大小形状相差很大，一般情况下，都是需要操作者在移动过程中，一边通过铅玻璃窗口观察二者之间的距离远近，一边逐步尝试移动微小的距离，逐步靠近样品进行调整。

这种操作方式主要存在如下几方面的缺点：

1、操作很不方便，一般都是依靠经验移动二者之间的距离，一边需要关注成像条件，一边要观察二者之间的运动状态，甚至有时需要关闭射线源、打开箱体，仔细检查各个位置的状态；

2、受限于眼睛视角的原因，背面很难观察到，只能受限于操作者个人的经验；

3、效率低，只是逐步一点一点逼近合适的成像条件；

4、安全性差，一旦输错方向，将会导致射线源、探测器这些贵重配件易发生碰撞，从而受到损伤，维修成本很高；另外，这种人工检查的方法，容易受主观的影响。

实用新型内容

本实用新型专利的目的在于克服现有技术的不足之处，提供一种用于无损检测成像的防撞保护系统，该系统可以保证在无损检测调整过程中及检测过程中，样品与射线源探测器有一个合适的安全距离监控机制，能从根本上保证碰撞事件的发生，而且调整方便、准确。

本实用新型解决技术问题所采取的技术方案是：

一种用于无损检测成像的防撞保护系统，所述系统包括射线源组件、样品、探测器组件、基座、样品底座、运动轴和控制器，所述基座的上表面上设置样品底座，该样品底座上设置样品，该样品底座水平相对两侧的基座的上表面上相对设有沿水平方向设置的运动轴，一侧的运动轴上表面上滑动设置射线源组件，另一侧运动轴上表面上滑动设置探测器组件，该射线源组件、探测器组件相对设置，所述射线源组件、探测器组件和运动轴均与控制器相连接设置，所述运动轴在控制器的控制下能够带动射线源组件、探测器组件沿水平方向来回滑动；

所述射线源组件包括射线源本体、射线源支架、光幕支架、光幕发射端和光幕接受端，所述射线源本体通过射线源支架设置于运动轴上，在射线源本体的出射口最前端安装有光幕支架，在光幕支架上安装有光幕发射端和光幕接受端，该光幕发射端和光幕接受端均与控制器相连接设置，所述光幕发射端和光幕接受端相对设置且与射线源本体的出射口最前端间隔设置；光幕发射端发出的光束会被光幕接受端接受到，当二者中间有物体进行遮挡时，光幕发射端和光幕接受端发出遮挡信号给控制器，控制器接受到信号，则停止运动轴运动；

所述探测器组件包括探测器本体、探测器支架、探测器光幕支架、光幕发射端和光幕按受端，所述探测器本体通过探测器支架设置于运动轴上，在探测器本体的接受口最前端安装有探测器光幕支架，在探测器光幕支架上也安装有光幕发射端和光幕接受端，该光幕发射端和光幕接受端也与控制器相连接设置，所述光幕发射端和光幕接受端相对设置且与探测器本体的接受口最前端间隔设置；光幕发射端发出的光束会被光幕接受端接受到，当二者中间有物体进行遮挡时，光幕发射端和光幕接受端发出遮挡信号给控制器，控制器接受到信号，则停止运动轴运动。

本实用新型的优点和积极效果是：

本系统包括射线源组件、样品、探测器组件、基座、样品底座、运动轴和控制器，射线源组件包括射线源本体、射线源支架、光幕支架、光幕发射端和光幕接端，探测器组件包括探测器本体、探测器支架、探测器光幕支架、光幕发射端和光幕按受端，光幕发射端发出的光束会被光幕接受端接受到，当二者中间有物体进行遮挡时，光幕发射端和光幕接受端发出遮挡信号给控制器，控制器接受到信号，则停止运动轴运动，进而停止探测器组件和/或射线源组件的运动，从而可以保证在无损检测调整过程中及检测过程中，样品与射线源探测器有一个合适的安全距离监控机制，能从根本上保证碰撞事件的发生，能够自动识别危险工况，保护成像系统，调整也十分方便，且即使样品大小形状相差很大，无需调整光幕，使用极为方便。

附图说明

图1为本实用新型的结构连接立体示意图；

图2为图1的另一角度的结构连接立体示意图；

图3为图1的另一角度的结构连接立体示意图；

图4为本实用新型中光幕发射端和光幕接受端的工作原理框图。

具体实施方式