[实用新型]一种适用于微波天线测试的非接触式旋转装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及微波测试领域，具体涉及一种适用于微波天线测试的非接触式旋转装置。

背景技术

天线的性能测试一般在微波暗室中进行，一般而言，标准喇叭天线放于待测天线的对面，根据天线原理可知，测试天线的主性能需要标准喇叭馈源的极化与之匹配，因此不同极化的待测天线需要不同极化的馈源喇叭；就同一线极化天线而言，常常需要测试其极化纯度，这时候需要馈源进行90°旋转测试待测天线的方向图特性；且对于圆极化天线而言，常常需要测试其轴比方向图，这给测试带来更大的困惑；综上要求给测试系统的成本和便捷性带来一定的困扰；因此，一般而言，标准喇叭馈源的极化需要可调，可以采取两种手段获得，一是通过将馈源安装在一个伺服旋转机构上，另一方面是通过在馈源后端安装一个旋转关节。对于前者，需要旋转精度较高的伺服调节结构，为了避免绕线旋转半径一般控制在±180°范围内，且尺寸过大，给测试带来不便，很难获得很好的性能。后者尺寸小，和馈源融为一体，非常便捷，但是，现有的旋转关节是将左探针和右探针直接接触，或在左探针和右探针之间设置中间零部件，并且左探针和右探针均与该中间部件直接接触，在左探针和右探针相对旋转的过程中，会发生摩擦，久而久之从而使得左探针和右探针的连接接触部位接触不良，从而影响测量的准确性，同时也降低了使用寿命。

实用新型内容

本实用新型的目的在于：针对目前用于微波测试的旋转关节由于摩擦损坏而寿命和性能降低的问题，提供一种适用于微波天线测试的非接触式旋转装置，摩擦损耗几乎可以忽略不计，寿命长且性能不随着使用时间的推移而降低。

为了实现上述目的，本实用新型采用的技术方案为：

一种适用于微波天线测试的非接触式旋转装置，包括左探针和右探针，所述左探针和所述右探针隔开布置，并且，所述左探针和所述右探针相互之间通过气体传递信号。

作为优选，所述旋转装置还包括左接矩形波导模、右接矩形波导模、左波导扼流槽支架和右波导扼流槽支架，所述左探针电连接在所述左接矩形波导模上，所述右探针电连接在所述右接矩形波导模上，所述左接矩形波导模与所述左波导扼流槽支架固定连接，所述右接矩形波导模与所述右波导扼流槽支架固定连接，所述左波导扼流槽支架通过轴承部件与所述右波导扼流槽支架连接，左探针能够相对右探针旋转，需要支撑该两零件的部件能够相对旋转，由于接触式旋转会产生摩擦，为了降低摩擦，本方案采用左波导扼流槽支架通过轴承部件与右波导扼流槽支架连接，并且是非接触式的连接，以降低左波导扼流槽支架相对右波导扼流槽支架旋转时产生的摩擦损耗，避免摩擦损坏太大而影响测量准确性和使用寿命。

作为优选，所述左波导扼流槽支架设置有外凹槽，所述右波导扼流槽支架一端插入所述外凹槽中，所述右波导扼流槽支架外表面具有凸肋，所述轴承部件包括滚动轴承和止推轴承，所述滚动轴承套设在所述右波导扼流槽支架上，并同时内嵌于所述左波导扼流槽支架的外凹槽中，所述凸肋与所述左波导扼流槽支架之间设置有所述止推轴承，所述凸肋远离所述左波导扼流槽支架的一面上设置有止推轴承，所述左波导扼流槽支架上可拆卸的设置有用于封盖所述止推轴承的端盖，该被封盖的止推轴承为远离所述左波导扼流槽支架的止推轴承，由此，能避免右波导扼流槽支架与左波导扼流槽支架因摩擦损坏太大而影响测量准确性和使用寿命。

作为优选，所述外凹槽底面还设置有第一凹槽，所述外凹槽配合所述第一凹槽形成台阶孔，所述右波导扼流槽支架设置有与所述第一凹槽相对应的甲凹槽，所述第一凹槽与所述甲凹槽配合形成用于作为波导模的波导模腔室。

作为优选，所述左探针和所述右探针均包括杆状的支持件和设置在该支持件上的圆盘件，所述支持件与所述圆盘件为一体式结构，采用圆盘件将信号能量由左接矩形波导模耦合传递至气体波导模，使得信号能量具有更好的过渡。

作为优选，所述左探针穿过所述左波导扼流槽支架与所述左接矩形波导模电连接，所述左探针与所述左波导扼流槽支架之间设置有绝缘套。

作为优选，所述右探针穿过所述右波导扼流槽支架与所述右接矩形波导模电连接，所述右探针与所述右波导扼流槽支架之间设置有绝缘套，采用圆盘件将信号能量由气体波导模传递至右接矩形波导模，使得信号能量具有更好的过渡。

作为优选，所述左波导扼流槽支架上设置有通气道，连通所述波导模腔室与外界。

作为优选，所述右波导扼流槽支架设置有乙凹槽，所述乙凹槽与所述甲凹槽配合形成台阶孔，所述第一凹槽槽口边缘凸起形成凸缘，所述凸缘与所述乙凹槽配合，并与所述乙凹槽的侧面和底面隔开布置。