[实用新型]485通讯总线测试切换装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测试装置，具体为485通讯总线测试切换装置。

背景技术

通讯线A、B为485总线，485通讯总线连接方式基本以手拉手方式为主，需要诊断485总线上的设备通讯情况时，必须先要将485总线从设备上拆除，导致其他设备不能正常通讯。如图1，目前市面上带有485通讯功能的仪器仪表及其他设施都是按照图1的方法来设计。MCU处理器为仪器仪表及其他设施用于处理485通讯的主控单元，通过接线端子A、接线端子B，直接与485总线A、B相连，达到通讯的目的。通讯诊断时，必须将485总线A、B从接线端子上拆除，让485总线A、B与MCU之间的通路断开，同时将诊断通讯线接到接线端子上，让诊断通讯线和MCU之间形成通路，达到诊断的目的。

如图2，检测第一个带有485通讯功能装置通讯通断时拆下端子A、端子B上的通讯总线，导致总线上其它装置通讯停止，而且接拆通讯线较为繁琐，工作量较大。一般通讯端子靠近高压附近，带电操作不安全，装拆需断开总电源，影响现场其他设备的正常工作。目前市场上还未有更好的解决方案能够快速485诊断。

实用新型内容

针对上述技术问题，本实用新型提供一种485通讯总线测试切换装置，提高检测效率。

具体的技术方案为：

485通讯总线测试切换装置，包括一对触头、PCB板和壳体，所述的触头包括静触头和动触头；所述的静触头的上端有折弯的静触点，形成倒置的L形，所述的静触头下端固定PCB板上；静触头的触点下方有动触头；所述的动触头包括上端的动触点，动触点下方分别连接导向杆和接线柱；所述的PCB板上分别有两个穿孔，一个穿孔用于穿导向杆，另外一个穿孔用于穿接线柱；所述的接线柱位于PCB板上方有弹簧，在弹簧的弹力下动触点与静触点接触，接线柱位于PCB板的下方有卡扣，以防接线柱从PCB板上脱落；所述的一对触头、PCB板安装在壳体内；所述的壳体上有测试孔，所述的测试孔位置与动触头对应；测试设备的测试针插入到测试孔后，将动触头下压与静触头分离开；

所述的两个静触头分别与接线端子A、接线端子B连接，接线端子A、接线端子B分别连接在485通讯总线的A、B线上；

所述的两个动触头的接线柱分别与MCU连接。

本实用新型提供的485通讯总线测试切换装置，提高485通讯总线诊断的工作效率，不必要断开485总线而影响其他设置正常工作；整个485通讯总线诊断过程安全可靠，操作人员不需要装拆通讯线以及由此带来的操作危险，并且能迅速找到故障位置，而不影响总线上的其余仪器仪表及其他设施的正常工作。

附图说明

图1是现有技术485通讯总线与MCU的接线方式；

图2是现有技术测试485通讯总线的方法；

图3是本实用新型的结构示意图；

图4是本实用新型的485通讯总线测试切换装置与与MCU的接线方式；

图5是本实用新型的测试时状态示意图。

具体实施方式

结合附图说明本实用新型的具体实施方式。

如图3所示，485通讯总线测试切换装置，包括一对触头、PCB板5和壳体1，所述的触头包括静触头3和动触头；所述的静触头3的上端有折弯的静触点9，形成倒置的L形，所述的静触头3下端固定PCB板5上；静触头3的触点下方为动触头；所述的动触头包括上端的动触点8，动触点8下方分别连接导向杆6和接线柱4；所述的PCB板5上分别有两个穿孔，一个穿孔用于穿导向杆6，另外一个穿孔用于穿接线柱4；所述的接线柱4位于PCB板5上方有弹簧7，在弹簧7的弹力下动触点8与静触点9接触，接线柱4位于PCB板5的下方有卡扣，以防接线柱4从PCB板5上脱落；所述的一对触头、PCB板5安装在壳体1内；所述的壳体1上有测试孔2，所述的测试孔2位置与动触头对应；测试设备的测试针10插入到测试孔2后，将动触点8下压与静触头3分离开；

所述的两个静触头3分别与接线端子A、接线端子B连接，接线端子A、接线端子B分别连接在485通讯总线的A、B线上；

所述的两个动触头的接线柱4分别与MCU连接。

如图4所示，在接线端子A、接线端子B和CPU处理器之间连接该测试切换装置，当测试针10从测试孔2插入，装置切断MCU与485通讯总线A、B的连接，同时接通与诊断通讯线与MCU之间的连接，达到诊断的目的。